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詳細(xì)介紹
CH-6JA干涉顯微鏡
| 干涉顯微鏡是用來測(cè)量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測(cè)量零件表面刻線，鍍層等深度。儀器配對(duì)各種附件，還能測(cè)量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面。同時(shí)還能將儀器安置在工件上，對(duì)大型工件表面進(jìn)行測(cè)量。 | ||||||||||
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2016-07-01 11:33:17瀏覽次數(shù)：500
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| 干涉顯微鏡是用來測(cè)量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測(cè)量零件表面刻線，鍍層等深度。儀器配對(duì)各種附件，還能測(cè)量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面。同時(shí)還能將儀器安置在工件上，對(duì)大型工件表面進(jìn)行測(cè)量。 | ||||||||||
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