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產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子/電池

Keithley數(shù)字源表

滿(mǎn)足您的所有生產(chǎn)測(cè)試需求，在同一空間內(nèi)有兩條*隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測(cè)量通道。每條 40 W 通道提供 6½ 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測(cè)量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 簡(jiǎn)化 FET 測(cè)試

Keithley數(shù)字源表特點(diǎn)

在同一空間內(nèi)可有 2 條通道
寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍
高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測(cè)試能力

嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測(cè)試程序，

使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測(cè)試

特點(diǎn)

消除與 PC 之間耗時(shí)的總線(xiàn)通信
高級(jí)數(shù)據(jù)處理和流量控制
通用型探頭/處理程序控制

系統(tǒng)性能，無(wú)主機(jī)

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試(而不使用主機(jī))。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量

特點(diǎn)

支持 <500 ns 通道間同步
可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道
隨著測(cè)試要求變化輕松重新配置

適合生產(chǎn)的低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在低 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

特點(diǎn)

在低電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時(shí)間快 7 倍
具有市面上的低電流分辨率
直接三芯同軸連接簡(jiǎn)化了設(shè)置

型號(hào)	通道	大電流源/量程	大電壓源/量程	測(cè)量分辨率（電流/電壓）	電源
2611B	1	10A	200V	100fA / 100nV	200 W
2601B	1	10A	40V	100fA / 100nV	200 W
2604B	2	10A	40V	100fA / 100nV	200 W
2614B	2	10A	200V	100fA / 100nV	200 W
2612B	2	10A	200V	100fA / 100nV	200 W
2602B	2	10A	40V	100fA / 100nV	200 W
2635B	1	10A	200V	0.1fA / 100nV	200 W
2634B	2	10A	200V	1fA / 100nV	200 W
2636B	2	10A	200V	0.1fA / 100nV	200 W

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