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宇時UM-4D超聲波測厚儀穿透涂層

宇時UM-4D超聲波測厚儀穿透涂層的產(chǎn)品特點：

包含UM-4的所有特性，增加回波-回波測量模式，用于穿透涂層測量基材厚度，標配TC510穿透涂層探頭。

1.同檔產(chǎn)品中*采用清晰亮麗的OLED真彩屏：

對比度10000：1，是TFT彩色液晶屏的40倍；分辨率320*240，是同檔產(chǎn)品的9倍以上。

2.更快的測量更新率：

更新率4Hz、8Hz、16Hz可調；普通的應用可選擇4Hz，當需要快速掃查時可選更高的更新率。

3.創(chuàng)新的A掃描快照功能，標志著經(jīng)濟型測厚儀進入全數(shù)字時代：

UM-4D在同檔產(chǎn)品中提供A掃描快照波形顯示功能，超聲波不再是看不見摸不著的抽象概念，用戶在屏幕上可直接看到超聲信號波形，用于驗證厚度讀數(shù)是否正確、分析出現(xiàn)問題的原因、幫助用戶找到解決問題的辦法。

4.具有穿透涂層功能，不再需要費時費力的去除涂層工作了：

我們之前在國內(nèi)推出了具有穿透涂層技術的UM-1D測厚儀，現(xiàn)在UM-4D同樣具備了這一*的功能。該功能是通過測量基材的兩個連續(xù)底面回波實現(xiàn)的。該模式下還具有更多的優(yōu)勢：免零點校準；高穩(wěn)定性，測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；零漂移。

5.業(yè)界經(jīng)濟型全數(shù)字測厚儀：

全數(shù)字測厚儀需要把模擬的超聲波信號轉換成數(shù)字信號，然后對數(shù)字信號進行運算處理，zui終獲得高性能的厚度測量能力。UM-4D的過零測量技術、高分辨力、A掃描快照功能都是以全數(shù)字技術為基礎的。

6.同檔產(chǎn)品中*真正達到0.01mm分辨能力的超聲波測厚儀：

一般超聲波測厚儀的顯示分辨率通常是0.01mm，但真實的分辨能力很難達到0.01mm。普通測厚儀電 路內(nèi)的定時計數(shù)器一般在30MHz以下，真正的硬件分辨力勉強只能到0.1mm，通過把多次測量結果取平均值的方法，模擬0.01mm變化的顯示效果，其實這樣并不能有效提高真實的分辨力，反而造成示值不穩(wěn)定的現(xiàn)象。UM-4D超聲波測厚儀采用突破性的全數(shù)字技術及特殊的算法，其真實分辨力可達到0.01mm，實驗證明可輕松分辨出厚度只相差0.01mm的兩個試塊。

7.采用突破性的過零測量技術：

以全數(shù)字技術為基礎，采用過零測量技術，厚度測量值不受回波強度、材料衰減系數(shù)、增益和閘門高度的影響，具有高測量穩(wěn)定性和可靠性。

8.更多實用的功能：

報警、差值/縮減率、zui大/zui小值。

穿透涂層的技術參數(shù)

穿透涂層的標準配置

主機1臺

標準探頭1個

儀器箱1個

耦合劑1瓶

操作手冊1本

1.5AA堿性電池 2節(jié)

穿透涂層的多種探頭可選