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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量準(zhǔn)確度常見(jiàn)情況分析
影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量準(zhǔn)確度常見(jiàn)情況分析
1.基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚方法是受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際操作中，低碳鋼磁性的變化基本可以認(rèn)為是非常輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；也可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.測(cè)頭壓力和側(cè)頭取向
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3.基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有一定的影響，而且基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。我們應(yīng)該使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
4.邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。所以說(shuō)在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5.基體金屬厚度
每一種測(cè)厚儀都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
6.曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不行的。
7.表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)測(cè)厚儀的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8.試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出的數(shù)據(jù)也是不行的。
9.附著物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
10.磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。