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涂層測(cè)厚儀的原理和影響因素
閱讀：2318發(fā)布時(shí)間：2017-5-31
涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度，具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
原理：利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。
涂層測(cè)厚儀影響因素：
（1）磁性金屬基體。磁性材料磁性的變化會(huì)造成影響，并且該影響會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的度發(fā)生改變。因此測(cè)量，當(dāng)使用厚度測(cè)量的測(cè)量方法，應(yīng)注意使金屬表面的粗糙度和磁場(chǎng)的需要和標(biāo)本是類似的標(biāo)準(zhǔn)件。
（2）基體金屬的厚度。需要強(qiáng)調(diào)的是，測(cè)量每個(gè)儀器具有一定的臨界厚度，一旦超過(guò)臨界值，測(cè)量結(jié)果受基體金屬厚度不受影響，從而造成測(cè)量結(jié)果的偏差，因此基體的金屬厚度將是非常的關(guān)鍵。
（3）邊緣效應(yīng)。標(biāo)本的測(cè)量、表面粗糙度、表面形狀會(huì)影響測(cè)量結(jié)果 , 特別是在靠近邊緣部分的標(biāo)本 , 因?yàn)闇y(cè)量?jī)x器非常敏感 , 因此 , 標(biāo)本的邊緣部分多數(shù)為不科學(xué)的測(cè)量數(shù)據(jù)。
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