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鍍層厚度的兩種常見測(cè)量方法原理介紹
閱讀：5454發(fā)布時(shí)間：2019-6-10
在涂裝施工的過(guò)程中，鍍層厚度是一項(xiàng)需要控制的重要指標(biāo)。控制的合不合理，會(huì)直接影響到鍍層的外觀質(zhì)量。
鍍層厚度常見的測(cè)量方法就是渦流測(cè)厚儀法和磁性測(cè)厚儀法，其具體的原理如下：
1、渦流測(cè)厚儀法的原理是：是由于線圈交變磁通量在受試物體的非磁性金屬表面中，所感應(yīng)生成的渦流而引起了的探頭線圈的表觀阻抗變化。這反過(guò)來(lái)改變流過(guò)探頭線圈的交流電幅寬，這種變化能以與探頭所連接的靈敏儀測(cè)量出。感應(yīng)渦流的大小隨探頭線圈與基底金屬，就是線圈所放置于接觸的干膜厚度的距離而變化。根據(jù)使用電源，可以分成由交流電供應(yīng)電力和半導(dǎo)體型自身所帶電池供電兩種類型。
2、磁性測(cè)厚儀法的原理是：測(cè)定磁鐵與涂層或者磁鐵與底材之間的磁引力。也可以測(cè)定通過(guò)涂層和底材的磁通量。而磁引力與磁通量的大小則依據(jù)漆膜的非磁性層在磁體和底材之間的厚度而變化，根據(jù)變化就可以測(cè)出鍍層厚度。
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