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      德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù),把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種*分析技術(shù)已成為實(shí)驗(yàn)室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù),并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

    SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級靶以確保*激發(fā),12位樣品自動交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

    SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包,包括:在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析:土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。

    XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令。

技術(shù)參數(shù):

1.功率50W,zui大電壓50KV,zui大電流2mA

2.50W端窗Pd靶X光管

3.硅漂移計(jì)數(shù)器,分辨率小于170eV

4.3位置次級靶自動轉(zhuǎn)換系統(tǒng),即3束X激發(fā)光源。

5.可選真空、充氣、常壓系統(tǒng)

主要特點(diǎn):

1.偏振X光激發(fā)樣品,具有極低的背景,的靈敏度

2.真正意義的Na-U的全分析,無需濾光片。

3.分析的含量范圍ppm級到*

4.極為豐富的軟件系統(tǒng),提供各種方法及校正模式。