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x射線光譜儀【深圳華普通用科技有限公司(簡(jiǎn)稱華普通用):,: 】SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng)，集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強(qiáng)大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX 適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可精確地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和專業(yè)化的軟件，使操作極為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不超過(guò)100秒。在測(cè)定稀有金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的所有數(shù)十種元素的分析。

主要特點(diǎn)：

——電制冷的 SDD 檢測(cè)器不需液氮制冷。
——超大樣品內(nèi)倉(cāng)（475*460*280 mm）可以放超大或者超小的樣品，對(duì)樣品的形狀沒(méi)有任何要求。
——采用上照式光管設(shè)計(jì)（X 光管的光束是從上往下照射樣品的），光斑*電腦控制，通過(guò)攝像頭可在電腦上輕松去選定測(cè)試樣品上的某個(gè)點(diǎn)（這個(gè)優(yōu)點(diǎn)對(duì)于不規(guī)則樣品來(lái)講是zui有優(yōu)勢(shì)的）；同時(shí)上照式的光管可以避免在測(cè)液體樣品時(shí)發(fā)生泄漏而損壞X 光管的問(wèn)題。
——攝像頭 20 倍變焦放大；激光束定位，彌補(bǔ)了攝像系統(tǒng)可能的位置偏差。
——符合 ISO9001, CE… 德國(guó)X 射線安全使用標(biāo)準(zhǔn)
——不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域所存在的元素進(jìn)行快速無(wú)損的分析鑒定，還可對(duì)超大樣品的表面（面積可達(dá)EC 標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2 倍，233*160mm），進(jìn)行元素分析。
——SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務(wù)而專門(mén)研制開(kāi)發(fā)的微區(qū)分析儀器，靈敏度高，無(wú)破壞性，適合多種行業(yè)及研究領(lǐng)域。
——分辨率：160ev , 計(jì)數(shù)率：250000cps（目前zui高計(jì)數(shù)率）。
——軟件驅(qū)動(dòng)的狹縫交換器，分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇，小焦點(diǎn)聚焦方式，能量無(wú)損失，定位更加精準(zhǔn)，可以測(cè)試到細(xì)小的焊端，引腳和BGA 焊球。
——儀器拓展性：用戶可自己建立曲線，建立測(cè)試方法，擴(kuò)展性較好，可以使儀器十年都保持*，軟件*升級(jí)。
——快速測(cè)定：可設(shè)定精度，自動(dòng)控制測(cè)試時(shí)間測(cè)試，測(cè)試時(shí)間zui短。
——內(nèi)置近百種不同材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
——斯派克公司開(kāi)發(fā)的 TQ-RoHS 軟件，具有強(qiáng)大的分析功能，可以校正多元素重疊，扣除Sb，Sn 及Br，As 分別對(duì)Cd，Pb 測(cè)試的影響，采用康普頓散射內(nèi)標(biāo)法校正（補(bǔ)正）不同的材質(zhì)。

技術(shù)參數(shù)：
兩大分類
SPECTRO MIDEX SD（樣品測(cè)試距離2 mm）
SPECTRO MIDEX LD（樣品測(cè)試距離20 mm）
激發(fā)
- Mo靶X光管，zui大功率：30W,zui大電壓：48kV
-測(cè)量點(diǎn)尺寸：Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
樣品室
-可顯示樣品的攝像系統(tǒng)（可調(diào)焦）
-手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)，樣品定位簡(jiǎn)便
-馬達(dá)驅(qū)動(dòng)精確移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái)，zui大行程240x178x160 mm（寬x深x高），zui大樣品重量3kg
計(jì)算機(jī)
-外置式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，Windows
操作系統(tǒng)，
-鍵盤(pán)，鼠標(biāo)，顯示器，打印機(jī)
-菜單式軟件，光譜儀參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算，元素成分及分布顯示
檢測(cè)器
- Peltier冷卻的Si漂移檢測(cè)器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
-以Mn Kα線，在測(cè)量計(jì)數(shù)率為10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)，能量分辨率：FWHM< 160 eV
-微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路
-脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps
光譜儀數(shù)據(jù)
-電壓：95-120V/200-240V AC，50/60 Hz,
-光譜儀能耗：200W
-儀器尺寸：670x 580x740 mm
-底座尺寸寬x深:500x550 mm
-重量55-70kg（根據(jù)不同配置）
分析
-用于合金元素分析的FP +基本參數(shù)程序
-塑料、復(fù)合材料用戶名金屬等的RoHS分析程序
環(huán)境條件
-周圍環(huán)境溫度：5-30°C（在20-25°C下，可達(dá)到標(biāo)定儀器性能）
-在25°C下相對(duì)濕度: 10-80 %，無(wú)冷凝，無(wú)蒸氣腐蝕，防塵