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超聲相控陣檢測(cè)的用途
閱讀：1293 發(fā)布時(shí)間：2020-11-18
超聲相控陣Olympus不無(wú)自豪地為廣大用戶(hù)推出了新研制的OmniScan®SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡(jiǎn)化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無(wú)模塊儀器，針對(duì)檢測(cè)要求較低的應(yīng)用，這款儀器操作十分方便，性?xún)r(jià)比高。
超聲相控陣檢測(cè)用途
（1）使用軟件控制聲束角度、焦距和聲束點(diǎn)的大小。在每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)可以動(dòng)態(tài)掃查這些參數(shù)，以為每個(gè)不同幾何形狀的工件優(yōu)化入射角和信噪比。
（2）可使用一個(gè)單個(gè)多晶片的小探頭和楔塊進(jìn)行多角度檢測(cè)，既可以單一固定角度進(jìn)行掃查，也可以多個(gè)角度進(jìn)行掃查。
（3）得益于這些性能，在檢測(cè)復(fù)雜幾何形狀的工件，或在進(jìn)行因工件的幾何形狀而限制接觸范圍的檢測(cè)時(shí)，相控陣系統(tǒng)具有更大的靈活性。
?。?）通過(guò)多個(gè)晶片而實(shí)現(xiàn)的多路傳輸技術(shù)，可使探頭從一個(gè)位置上，無(wú)需移動(dòng)，即可完成高速掃查。探頭在同一個(gè)位置就可以不同的檢測(cè)角度進(jìn)行一次以上的掃查。