很多用戶有這樣的疑問：究竟什么是激光3D陣列掃描測量？激光3D陣列掃描測量在實際工作中能給我們帶來些什么？

　　今天我們就來具體探討一下！

工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌 奧林巴斯

　　1.獨立的激光模塊和棱鏡設計，可以實時五點物距測量成像，直接選擇好時機進行測量拍攝，無需拍攝之后再進行測量；
 

　　2.可以實現(xiàn)點到點，點到線，點到面，面積，點云，逐層剖面，多彩深度顯示等測量模式，可以實現(xiàn)2D，3D的同時顯示，并在顯示時可以實時操作觀察角度；

　　3.一鍵回復3D圖像的原位，并可以快速的在XYZ軸角度一鍵觀察，利于操作效率的提高；

　　4.缺陷尺寸的測量精度0.01mm，準確度95%以上，通過不同顏色顯示不同的參考平面；設備測量時可進行瞬時定格測量，只需0.01s以下，無需等待，操作迅速，避免放大圖像在前端的微小位移帶來的測量誤差；

　　5.測量鏡頭及模塊耐用性能好，前端無容易損壞的光源及光柵；

　　6.雙光路鏡頭，雙螺紋結(jié)構避免脫落設計，有文字顯示松動脫落警報；90度大視野角度，同時可以單視野觀察；前端無易損光源元件。

工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌 奧林巴斯

　　能夠進行清晰觀察的高品質(zhì)圖像

　　IPLEX  NX能夠傳送出高分辨率圖像，分辨率1024*768。其可靠的畫質(zhì)使用戶能夠清晰地識別出問題點和缺陷區(qū)域，從而使檢查員能夠?qū)﹃P鍵系統(tǒng)和技術作出正確的判斷。

　　亮度和畫質(zhì)

　　采用IPLEX NX觀察目標區(qū)域比以前更清晰。三種增強技術 – 改善的高分辨率CCD技術、良好的激光照明技術和新型的PulsarPic處理器 – 提供了的畫質(zhì)，亮度是傳統(tǒng)工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡的四倍。即使是大而寬的標本也能照亮檢查目標。
 

　　降噪 (NR)算法控制
 

　　光滑的表面常常出現(xiàn)圖像噪點，比如偽色，并且低度照明圖像中的隨機噪點可能會妨礙嚴格
 

　　的檢查。新的PulsarPic系統(tǒng)采用了針對IPLEX  NX進行了微調(diào)的降噪 (NR) 算法，以產(chǎn)生噪點很少的圖像，便于進行決策篩選工作。
 

　　大觸摸屏顯示器
 

　　鮮明的8.4英寸觸摸屏顯示器在任何光線下都可以傳送出清晰明亮的圖像。
 

　　IPLEX NX擁有IPLEX系列中8.4英寸顯示器，可以顯示比傳統(tǒng)6.5英寸顯示器大1.7倍的圖像。
 

　　3D測量工業(yè)內(nèi)窺鏡
 

　　圖像
 

　　即使在黑暗的地方，或反射強的地方也可以用明亮而清晰的圖像來檢測廣大區(qū)域中細微的缺
 

　　陷。IPLEX  NX工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡的技術意味著用戶可以獲得用于快速、檢查的高品質(zhì)圖像。
 

　　擴展的測量能力
 

　　IPLEX NX設計能夠進行3D測量。融入了奧林巴斯公司良好的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡技術，能夠完成而有效檢測，并可測量缺陷的長、寬、高、面積、周長，測量精度可達97%以上。
 

　　超大區(qū)域的立體測量
 

　　立體測量功能用于測量缺陷的尺寸或深度，比如檢查過程中發(fā)現(xiàn)的裂縫。重新設計的光學系
 

　　統(tǒng)和強化技術擴展了檢查面積?，F(xiàn)在用戶可以在比傳統(tǒng)工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡大4倍的檢查區(qū)域中識別并測量距離為2倍遠的缺陷。立體測量功能通過準確的三角測量提供了圖像上指
 

　　定點的3D空間信息，從而提供了準確的長度、深度和形狀測量。IPLEX NX專為提高準確性和畫質(zhì)而設計、生產(chǎn)和微調(diào)，從而使檢查員可以檢測以前是要靠近才能測量的小裂縫或缺陷。
 

　　多點物距測量
 

　　IPLEX  NX擁有*的多點物距測量功能，能夠?qū)崟r測量從內(nèi)窺鏡到檢查表面上多個點之間的距離。該功能提供了實時表面信息，不會暫?；蛑袛鄼z查。
 

　　提高了檢查效率
 

　　IPLEX  NX易于操作，整機設計符合人機工程學。即使是長時間檢查過程中，由于NX擁有可更換的內(nèi)窺鏡組件和具有TrueFeel技術的角度控制系統(tǒng)，因此也能使用戶感到舒適與易于操控。
 

　　多種位置設計
 

　　可以以六種不同的方式設置IPLEX NX，以大化提高用戶舒服舒度。在不同的環(huán)境中使用
 

　　IPLEX   NX時，可以將觸摸屏顯示器放置于舒服的位置。甚至可以將主機與顯示器分離，以增加靈活性和便捷性。使用選配的遙控器可以進行佳的輕觸控制。