上海欣茂X3PCSR大平片透射測量儀DNA測試多波長測試導航觸摸屏等，光學鍍膜件通過儀器（反射軟件）反射率測量/透射率測量后才能準確修正物理膜系。
X3PCSR大平片透射測量儀詳細參數(shù):
波長范圍：325-1100nm
光譜帶寬：1,2,4,5nm狹縫自動可變
圓形樣品最小測試φ2反射率樣品
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0. 2nm
光度準確度：±0.5%T
光度重復性：0.2%T
雜散光：0.1%T（360nm處）
穩(wěn)定性：±0.001A/h(500nm處)
顯示方式：液晶顯示器
最小分辨率0.1nm
吸光度范圍：-0.3-3.0A，0-200%T
檢測器： 進口硅光二極管
光源： 進口品牌鎢燈
鍵盤： 觸摸式按鍵
數(shù)據(jù)輸出：RS-232標準接口 /USB接口
打印輸出：并口
電源：AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz
儀器尺寸：470*380*200mm
機重量： 13kg
X3PCSR大平片透射測量儀儀器配置：
光譜分析家軟件 透射測試 壹套；
光譜分析家軟件 反射測試 壹套；
反射附件 壹套；
透射測試架壹套；
隨機資料壹套；
數(shù)據(jù)線 電源線各壹套；
基準片2片（低反+高反）
可另配轉角度反射附件（測試棱鏡等附件）
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