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TSI 3082型靜電分級器簡介
高度可靠且用途廣泛
自1976年以來，TSI® 靜電分級器一直在幫助科學(xué)家發(fā)生和測量亞微米粒子。這些儀器被廣泛用于各種研究，并因其高度可靠和極其廣泛的用途而贏得了當(dāng)之無愧的聲譽(yù)。我們新型的靜電分級器— 3082型—不但延續(xù)了這一傳統(tǒng)，而且具有擴(kuò)展的功能和易于使用的界面。當(dāng)前的設(shè)計提供了免工具安裝和自動檢測可配置組件的功能。分級器控制平臺包括觸屏顯示器和圖形用戶界面控制，可進(jìn)行粒徑分布測量，并具有數(shù)據(jù)存儲的功能，大大擴(kuò)展了您研究的可能性！
TSI® 的靜電分級器篩分出高度單分散的亞微米氣溶膠，直徑范圍為 1-1,000nm。靜電分級器用作單分散氣溶膠發(fā)生系統(tǒng)或亞微米粒子分級系統(tǒng)的組成部分。
應(yīng)用
3082 型靜電分級器是氣溶膠測量的“一級標(biāo)準(zhǔn)"儀器。這意味著它的性能基于基本的物理原理，且結(jié)果是高度可重復(fù)的。
3082 型靜電分級器可用于氣溶膠發(fā)生和氣溶膠粒徑分布測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）使用TSI® 長DMA 差分靜電遷移分析儀來測量0.1微米標(biāo)準(zhǔn)參考材料的粒徑。
當(dāng)用作氣溶膠發(fā)生器以產(chǎn)生高度單分散粒子時：
? 氣溶膠研究，包括粒子傳輸、擴(kuò)散、凝聚、 核化和凝結(jié)的研究
? 粒子電荷和電遷移率研究
? 濾材的過濾效率測試
? 光學(xué)粒子計數(shù)器等粒子儀器的校準(zhǔn)—通過去除殘余 粒子和多重態(tài)來增強(qiáng)聚苯乙烯膠乳球（PSL）或其他 氣溶膠的單分散性
當(dāng)在 TSI® SMPS™ 粒徑譜儀中用于亞微米粒子的高分辨率粒徑測量時：
? 氣溶膠研究，包括核化和凝結(jié)研究
? 大氣監(jiān)測和氣候研究
? 納米技術(shù)研究與材料合成
? 燃燒和發(fā)動機(jī)排放研究
? 火焰、粉末、噴霧或其它來源產(chǎn)生的氣溶膠的表征
當(dāng)單分散粒子生成與粒徑分布測量串聯(lián)使用時：
測量由于凝聚、蒸發(fā)、凝結(jié)、加濕和化學(xué)反應(yīng)引起的粒子粒徑的變大和變小。
當(dāng)與TSI® 氣溶膠靜電計3068B 型一起使用時：
凝聚核粒子計數(shù)器（ISO 27891）和其它氣溶膠儀器的初級粒徑和濃度校準(zhǔn)。
雙重用途
氣溶膠發(fā)生和氣溶膠粒徑測量
從廣義上講，靜電分級器有兩類應(yīng)用：單分散氣溶膠發(fā)生和亞微米氣溶膠粒徑分布測量。3082 型靜電分級器作為可選組件的操作平臺，選擇何種組件取決于客戶的應(yīng)用。
3082型靜電分級器的第一個用途是作為亞微米粒子的單分散氣溶膠發(fā)生器。為了將分級器用作單分散氣溶膠發(fā)生器，用戶需安裝選定的差分靜電遷移分析儀（DMA）、氣溶膠中和器和進(jìn)樣口撞擊式切割器；所有這些組件都由分級器控制和/或監(jiān)測。
3082 型分級器的第二個也是最常見的用途是在掃描電遷移粒徑譜儀（SMPS™）系統(tǒng)中。SMPS™ 系統(tǒng)測量氣溶膠的粒徑分布。在SMPS™系統(tǒng)中，從分級器出來的單分散氣溶膠通過凝聚核粒子計數(shù)器（CPC），測量粒子數(shù)量濃度。通過快速掃描選定的粒徑范圍（因配置而異），SMPS 可精確測量氣溶膠的粒徑分布。經(jīng)驗(yàn)證，TSI® SMPS 可準(zhǔn)確測量NIST 可追溯粒子（Vasiliou，2004）。
3938 系列SMPS 能夠測量小至1 nm，大至1,000 nm 的粒子，具體取決于所使用的可配置組件。已安裝的組件可被自動檢測識別。對于大多數(shù)SMPS 配置，可以直接從3082 型分級器的前屏幕或通過軟件看到掃描結(jié)果。