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X熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)

閱讀：5803 發(fā)布時(shí)間：2017-11-17

　　X熒光光譜儀適用于工廠來料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測(cè)，鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。無損檢測(cè)，可對(duì)電子電氣設(shè)備，玩具指令中的有害物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析。

　　X熒光光譜儀優(yōu)勢(shì):

　　a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

　　b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測(cè)定。

　　c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　e) 分析精密度高。

　　f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

　　X熒光光譜儀劣勢(shì)：

　　a)難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣。

　　b)對(duì)輕元素檢測(cè)的靈敏度要低一些。

　　c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

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X熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)

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