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MP工具箱 | Zetasizer測試結(jié)果質(zhì)量判別
在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結(jié)果前，我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說，在合適的濃度范圍內(nèi)，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過對count rate（測試光強(qiáng)）和 attenuator （衰減器編號）等參數(shù)來考察樣品濃度是否合適。
正常的樣品濃度，光強(qiáng)會在適合范圍內(nèi)；如果衰減器編號過低或者過高，樣品的濃度就可能過高或者過低，導(dǎo)致影響測試準(zhǔn)確性。如果濃度合適，光強(qiáng)均在100-500kcps 之間，Attenuator 會在5-9 之間，＞9 樣品較稀，＜5 樣品較濃。
相關(guān)方程顯示了粒子散射光波動(dòng)的信息，相當(dāng)于測試原始信號。如下列例圖，樣品本身的粒徑大小及分布等信息，可以從相關(guān)方程得到，尤其要關(guān)注以下四點(diǎn)信息：
Correlation Functions----相關(guān)方程
1
截距——信噪比
一般截距在0.85-0.95 之間，過高＞1 可能體系中存在較多的大顆粒信號，數(shù)量波動(dòng)較大；過低可能是顆粒較小且濃度較??；如果只有0.00+可能體系有熒光。
2
時(shí)間依賴性——顆粒大小
如果時(shí)間依賴性長，說明顆粒較大，反之，顆粒較小。
3
斜率——樣品分布寬度
斜率較大說明樣品分布較窄，反之，則較寬。如果有兩個(gè)斜率，通常樣品雙峰分布。
4
基線——大顆粒或灰塵影響
如果基線不平，則說明體系中有很大的粒子、灰塵、締合物等；如果基線光滑且歸零，說明體系無大顆粒、灰塵等。大顆粒會影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量。