手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標準片

用于校準手持式光譜儀，不管什么品牌什么型號均可使用。銅上鍍鉍厚度標準片用于建立和校準銅上鍍鉍程式。

銅上鍍鉍厚度標準片

1. Bi/Cu，理論厚度：20微英寸（0.50微米）
2. Bi/Cu，理論厚度：50微英寸（1.25微米）
3. Bi/Cu，理論厚度：100微英寸（2.5微米）
4. Bi/Cu，理論厚度：150微英寸（3.75微米）
5. Bi/Cu，理論厚度：200微英寸（5.0微米）
6. Bi/Cu，理論厚度：250微英寸（6.25微米）
7. Bi/Cu，理論厚度：300微英寸（7.5微米）
8. Bi/Cu，理論厚度：400微英寸（10.0微米）

關于“理論厚度”：實際到貨值會在理論厚度的附近。原廠偏差控制在±15%范圍內(nèi)。

關于“底材”：常用為銅（Cu），如有其他底材要求或其他厚度要求，可聯(lián)系上海益朗儀器有限公司非標定制。

由于箔片太脆弱而無法與手持式光譜儀一起使用，因此手持式光譜儀用銅上鍍鉍厚度標準片以*的方式包裝，以便與手持式光譜儀一起使用。標準設計允許用戶在有或沒有視頻成像的情況下瞄準標準，以便校準便攜式XRF儀器的薄膜厚度和材料分析測試。適合用于以下品牌但不限于以下品牌：尼通、伊諾斯、奧林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪聲等。

單層手持式XRF產(chǎn)品摘要

這些標準包括一層通過濺射或電鍍方法沉積在特定基材上的高純度薄膜。它們可以用于校準便攜式手持XRF設備，以測量在基材上具有一層與標準涂層和基材相同的元素組成的涂膜的樣品。這些標準是堅固的，不易彎曲的材料，安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上，以方便手持XRF儀器的定位和校準。

注意：
1.對于小于等于1微米（40μin）的厚度，交貨標準的允許厚度偏差為±10％。 
2.如果厚度> 1微米（40μin），則所交付標準的允許層厚度偏差為±15％。 
3.均勻度：5％。 
4.認證厚度不確定度（95％置信區(qū)間）±5％。 

定義：
一。均勻度的定義是：（大厚度–小厚度）/平均
    表示為百分比，其中可以在標準暴露表面的任何位置確定厚度。 
b。除非報價中另有說明，否則以上述規(guī)格為準。 
C。“有庫存”表示交貨時間為下訂單后1-2周。