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設(shè)備用途：
　　低溫試驗(yàn)箱價(jià)格 低溫環(huán)境試驗(yàn)箱價(jià)格主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。電路板高低溫老化箱主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

低溫試驗(yàn)箱價(jià)格 低溫環(huán)境試驗(yàn)箱價(jià)格箱體為整體結(jié)構(gòu)形式，制冷系統(tǒng)位于箱體后下部，控制系統(tǒng)位于試驗(yàn)箱的上部，工作室一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，分布加熱器、制冷蒸發(fā)器、風(fēng)葉等裝置;試驗(yàn)箱左側(cè)設(shè)有Ф50電纜孔，試驗(yàn)箱為單開門，箱門上設(shè)有觀察窗、防霜裝置及可開關(guān)控制的照明燈。觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜加熱除霜。照明燈采用進(jìn)口品牌飛利浦燈管，可有效的*觀察工作室內(nèi)的試驗(yàn)變化。采用雙層耐高溫抗老化硅橡膠密封，可有效保證試驗(yàn)箱溫度的流失

低溫試驗(yàn)箱價(jià)格 低溫環(huán)境試驗(yàn)箱價(jià)格溫度范圍
　　A型: 0℃～+100℃(+150℃)
　　B型: -20℃～+100℃(+150℃)
　　C型: -40℃～+100℃(+150℃)
　　D型: -70℃～+100℃(+150℃)

低溫試驗(yàn)箱價(jià)格 低溫環(huán)境試驗(yàn)箱價(jià)格技術(shù)參數(shù)：
　　波動度：±0.5℃
　　均勻度：±2℃
　　升溫速率：3.0℃/min ( 可按客戶要求定做)
　　降溫速率：0.7～1℃/min (可按客戶要求定做)
　　外箱材料：優(yōu)質(zhì)冷軋板靜電噴塑/SUS304不銹鋼(任選一種)
　　內(nèi)箱材料：優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板
　　保溫材料：超細(xì)玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡
　　箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條

低溫試驗(yàn)箱價(jià)格 低溫環(huán)境試驗(yàn)箱價(jià)格設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：
　　GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
　　GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
　　GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則