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ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)
紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)的研究
光學(xué)分析的10多個(gè)進(jìn)制單位的動(dòng)態(tài)范圍
Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準(zhǔn)）
無線通信：內(nèi)置
用戶控制或自動(dòng)：范圍、規(guī)零/暗零、采樣率
4-20 mA輸出
15針D Sub和SMA輸入端口
“Set it & Forget It"遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)記錄
電源：USB或內(nèi)置充電電池組
多系統(tǒng)同時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè)
包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼
NIST可追溯/ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)
采樣率高達(dá)100 Hz，可編程
ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)描述：
紫外敏感危害探測(cè)器設(shè)計(jì)為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度，用于紫外敏感危害研究
測(cè)量
測(cè)量范圍：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光譜范圍：250–400 nm
配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探頭）
*包括軟件
應(yīng)用：該檢測(cè)器經(jīng)過特殊配置，可準(zhǔn)確測(cè)量穿過UV波段的寬波部分，用于總UV靈敏度危險(xiǎn)監(jiān)測(cè)。
濾光片和輸入光學(xué)元件是可拆卸的，可以與探測(cè)器組件分開購買，以允許濾光片和輸入光學(xué)元件互換。
注：配置中不含圖片中的平板電腦。