頻雷達液位計

頻雷達物位計原理：

雷達物位天線發(fā)射較窄的微波脈沖，經(jīng)天線向下傳輸。微波接觸到被測介質(zhì)表面后被反射回來再次被天線系統(tǒng)接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉(zhuǎn)換成物位信號（因為微波傳播速度極快，電磁波到達目標并經(jīng)反射返回接收器這一來回所用的時間幾乎是瞬間的）。

測量的基準面是：螺紋底面或法蘭的密封面。

注：使用雷達物位計時，務(wù) 料位不能進入測量盲區(qū)（圖中D所示區(qū)域）。

頻雷達物位計點：

天線尺寸小，便于安裝；非接觸雷達，無磨損，無污染。

幾乎不受腐蝕、泡沫影響；幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。

嚴重粉塵環(huán)境對頻物位計工作影響不大。

波長更短，對在傾斜的固體表面有更的反射。

波束角小，能量集中，增了回波能力的同時又有利于避開干擾物。

測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得良的效果。

信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更的性能。

頻率，是測量固體和低介電常數(shù)介質(zhì)的 佳選擇

雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。

    雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。

    雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產(chǎn)品，主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。

 頻雷達液位計