目錄:東莞市正臺測試儀器有限公司>>冷熱沖擊試驗箱>>液體溫度沖擊試驗箱>> ZT-CTH-56C液態(tài)冷熱沖擊試驗機(jī)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,航天,汽車,綜合 |
液態(tài)冷熱沖擊試驗機(jī)用途：
適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑 膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具.
液態(tài)冷熱沖擊試驗機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GJB150.5-86溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗
IEC68-2-14 試驗N：溫度變化
GJB150.4-86 低溫試驗箱試驗方法
GJB150.3-86 高溫試驗箱試驗方法
MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗方法
MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法
GB 2423-22環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C |
模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中，通過樣品籃的移動到達(dá)低溫或高溫槽內(nèi) | |
試驗樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 |
預(yù)冷溫度范圍 | -70℃～0℃ | |
預(yù)熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ | |
溫度沖擊范圍 | -40℃～+150℃/-65℃～+150℃ | |
測試時間 | ≥10 mins | ≥10 mins |
轉(zhuǎn)換移動時間 | ≤30s | |
溫度偏差 | ±1.0℃ | |
溫度波動度 | ±0.5℃ | |
溫度波動度 | ±1.0℃ | |
使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz | |
安全保護(hù)措施：
1.安全可靠的接地保護(hù)裝置
2.電源欠壓、缺相保護(hù)
3.獨(dú)立的工作室超溫保護(hù)
4.制冷機(jī)超壓、過載、油壓欠壓保護(hù)；
5.加熱器短路、過載保護(hù)
6.漏電保護(hù)、報警聲訊提示。
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