X熒光光譜儀可對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至100%，檢出限到2pg。
X熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線(xiàn)光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線(xiàn)熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征輻射，通過(guò)側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線(xiàn)熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。

EDX6000B 是天瑞儀器研發(fā)的一款儀器，專(zhuān)門(mén)針對(duì)于水泥行業(yè)，礦產(chǎn)行業(yè)等研發(fā)出來(lái)的，內(nèi)置自動(dòng)移動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)，可同時(shí)測(cè)試多個(gè)樣品，操作簡(jiǎn)單方便

EDX系列環(huán)保檢測(cè)設(shè)備_ROHS測(cè)試儀? 性能特點(diǎn)

專(zhuān)業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
超薄窗大面積的*SDD探測(cè)器。
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線(xiàn)性回歸程序
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。

EDX系列環(huán)保檢測(cè)設(shè)備_ROHS測(cè)試儀 技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm—99.99%(不同材質(zhì)，分析范圍不同)
同時(shí)分析元素：同時(shí)可以分析30種以上元素
檢測(cè)限：RoHS指令規(guī)定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢出限達(dá)ppm級(jí)
測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量薄至0.005微米
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：60秒—200秒
工作溫度:15℃—30℃
工作濕度：≤70%
工作電壓：AC 110V/220V

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄端窗X光管
電制冷UHRD探測(cè)器
內(nèi)置高清晰攝像頭
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
外觀尺寸： 510×589×350 mm
樣品杯尺寸（10個(gè)）：40.7×26mm
重量：55Kg

應(yīng)用領(lǐng)域

水泥檢測(cè)
鋼鐵和有色金屬檢測(cè)
礦料分析
RoHS檢測(cè)