Duma微米探測(cè)光束分析儀,聚焦光斑測(cè)試儀屬于CCD型光束分析儀,其CCD面積3.2x2.4mm,波長(zhǎng)范圍350~1310nm,像素~4x4μm,配合10倍到100倍物鏡放大,實(shí)際像素可以變成0.4μm到0.04μm,可以測(cè)量小至0.5um的光束。
激光聚焦光斑由于尺寸小,光斑能量非常集中,功率密度超高而不好測(cè)量。DUMA通過(guò)加配物鏡的方法把光斑放大10X~100X,一方面擴(kuò)大了光斑尺寸,另一方面減小了功率密度,從而使聚焦光斑的測(cè)試有了可能。
uBeam是微米級(jí)光斑測(cè)試儀,能夠測(cè)量連續(xù)激光或脈沖激光,實(shí)時(shí)顯示亞微米范圍內(nèi)的激光特性,例如激光聚焦光斑或整形后的平頂光斑。配合配SAM3-HP光束取樣器,μBeam甚至可以測(cè)量幾百瓦激光器的聚焦光斑。μBeam最小的有效像素為0.04μm,能夠測(cè)量的最小光斑大概在0.5μm。Duma微米探測(cè)光束分析儀,聚焦光斑測(cè)試儀
uBeam光斑分析儀規(guī)格參數(shù)
uBeam微米級(jí)光斑分析儀的主要特點(diǎn)和功能包括:
測(cè)量小于0.5µm光束(FWHM)
高分辨率CCD(80萬(wàn)像素),CCD面積3.2x2.4mm,像素~4x4μm,波長(zhǎng)范圍350~1310nm
µBeam-X-USB2.0 相機(jī),USB2.0接口,物鏡,軟件
µBeam-X-SA 相機(jī),顯示模塊,物鏡,軟件X
x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡,有效像素最小0.04x0.04um
長(zhǎng)工作距離、光學(xué)變焦。
uBeam微米級(jí)光斑分析儀的訂貨型號(hào)
Model µBeam-X-USB 2.0: 完整的聚焦光斑系統(tǒng),x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡
Model µBeam-X-SA:
X (Objective magnification) : x10,x20,x50,x100
Duma微米探測(cè)光束分析儀,聚焦光斑測(cè)試儀