BeamMap2擁有Beam'R2所沒(méi)有的功能,如實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置的測(cè)量的功能是只有BeamMap2具備的。本文主要介紹狹縫式光束質(zhì)量分析儀Beam'R2和BeamMap2。其與傳統(tǒng)的光斑截面分析儀的最大區(qū)別是,無(wú)需繁復(fù)的移動(dòng)儀器便可以實(shí)時(shí)精準(zhǔn)的得到激光的激光輪廓分布,激光質(zhì)心,實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置和激光對(duì)準(zhǔn)的測(cè)量。
狹縫式光束質(zhì)量分析儀
光束強(qiáng)度分析是光子學(xué)許多方面的重要工具。聚焦激光束中的精確強(qiáng)度分布在許多應(yīng)用中是至關(guān)重要的:流式細(xì)胞術(shù),激光打印,醫(yī)療激光和切割激光等等許多方面。 強(qiáng)度輪廓分布測(cè)量可以表征和改進(jìn)產(chǎn)品性能和生產(chǎn)過(guò)程,從而大大節(jié)省成本和時(shí)間,如果使用過(guò)傳統(tǒng)的激光光斑分析儀測(cè)量激光發(fā)散角以及M2值,那么您就知道該過(guò)程的耗時(shí)。 測(cè)量一次,沿z軸移動(dòng)探測(cè)器,在第二個(gè)平面測(cè)量,估計(jì)焦點(diǎn)位置,重新調(diào)整z,再次測(cè)量......通常是一個(gè)漫長(zhǎng),乏味和復(fù)雜的過(guò)程。使用BeamMap2可以實(shí)時(shí)得到測(cè)量激光光束的各項(xiàng)參數(shù)且無(wú)需繁復(fù)的人工操作便可以得到精確的激光M2,激光發(fā)散角,激光聚焦光斑位置。
本文主要描述了BeamMap2和Beam'R2在參數(shù)和功能上的區(qū)別。功能上Beam'R2有的功能BeamMap2基本都有。同時(shí),BeamMap2所以擁有的功能如多個(gè)z平面掃描,實(shí)時(shí)M2,指向,發(fā)散角和焦點(diǎn)位置測(cè)量等特點(diǎn)都是Beam'R2所沒(méi)有的。
獲得知識(shí)產(chǎn)權(quán)的BeamMap2是可商購(gòu)的多平面光束質(zhì)量分析儀。 DataRay軟件中使用的BeamMap2的屏幕截圖如下所示。 在這里,您可以在四個(gè)不同的z位置看到四個(gè)同時(shí)光束輪廓。 軟件顯示該光束在X,Y和Z中正確聚焦,并且該光束的M2為1.47。
DataRay的Beam'R2非常適合于許多激光光束分析的應(yīng)用。 通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的2.5μm寬度大小的狹縫和更大的刀口切面,Beam'R2能夠測(cè)量直徑小至2μm的激光光束。 通過(guò)選擇硅和InGaAs或擴(kuò)展的InGaAs,Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。 Beam'R2掃描狹縫儀器提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)更高的分辨率。
DataRay的BeamMap2代表了一種不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。 它通過(guò)允許沿光束行程的多個(gè)位置進(jìn)行測(cè)量,擴(kuò)展了Beam'R2的測(cè)量功能。 這種實(shí)時(shí)狹縫掃描系統(tǒng)在旋轉(zhuǎn)圓盤上的多個(gè)z平面中使用XY狹縫對(duì),以同時(shí)測(cè)量四個(gè)不同z位置處的四個(gè)光束輪廓。 BeamMap2特別的知識(shí)產(chǎn)權(quán)設(shè)計(jì)適用于焦點(diǎn)位置,M2,光束發(fā)散和指向的實(shí)時(shí)測(cè)量。
DataRay狹縫式光束質(zhì)量分析儀Beam'R2和BeamMap2主要應(yīng)用:
-非常小的激光束輪廓
-光學(xué)組件和儀器對(duì)準(zhǔn)
-OEM集成
-鏡頭焦距測(cè)試
-實(shí)時(shí)診斷聚焦和對(duì)準(zhǔn)誤差
-將多個(gè)裝配體實(shí)時(shí)設(shè)置為相同的焦點(diǎn)
DataRay狹縫式光束質(zhì)量分析儀Beam'R2和BeamMap2參數(shù)規(guī)格對(duì)比
Display graphics: All: X-Y position; Profiles.
BeamMap2 only: M2, Focus; Divergence, Boresight/Pointing
DataRay狹縫掃描式光束品質(zhì)分析儀Beam'R2和BeamMap2特點(diǎn):
-實(shí)時(shí)二維狹縫
-分辨率高達(dá)0.1μm
-探測(cè)器選項(xiàng),190 - 2500 nm
-5 Hz
更新速率(用戶可調(diào)節(jié)2-12 Hz)
-ISO兼容光束直徑測(cè)量
-端口供電的USB2.0
-自動(dòng)增益功能
-可選配件,適用于符合ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)的M2測(cè)量。
-測(cè)量高重復(fù)脈沖激光
脈沖最小PRR = [500 /(光束直徑,以μm為單位)] kHz
美國(guó)DataRay掃描狹縫式光束質(zhì)量分析儀BeamMap2所特別具有的特點(diǎn):
-多個(gè)z平面掃描
-使用BeamMap2-Collimate實(shí)時(shí)測(cè)量準(zhǔn)直光束的發(fā)散度
-XYZ曲線,外加θ-Φ角度測(cè)量
-焦點(diǎn)位置和直徑
-實(shí)時(shí)M2,指向和發(fā)散角
-識(shí)別焦點(diǎn),重復(fù)精度為±1μm(光束相關(guān))
-可選的LensPlate2用于探測(cè)難以接近的光束束腰和重新成像的波導(dǎo)
(Optional LensPlate2 for reaching inaccessible beam waists and reimaging waveguides)
狹縫式光束質(zhì)量分析儀