Park FX40 納米科學(xué)研發(fā)界的新星 全自動(dòng)原子力顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介
Park FX40全自動(dòng)原子力顯微鏡（AFM）是一款專注于納米科學(xué)研究的精密設(shè)備，通過(guò)智能自動(dòng)化與高精度技術(shù)，為材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)等領(lǐng)域的研究者提供高效支持。作為Park Systems的核心產(chǎn)品之一，F(xiàn)X40結(jié)合先進(jìn)的硬件設(shè)計(jì)與智能化軟件系統(tǒng)，簡(jiǎn)化了從探針更換、激光校準(zhǔn)到高清成像的全流程操作，從選探針到放置再到全自動(dòng)掃描樣品，只需輕松一鍵。
儀器特點(diǎn)
1. 全流程自動(dòng)化操作
l 自動(dòng)探針管理：配備8針盒磁控?fù)Q針系統(tǒng)，支持探針類型自動(dòng)識(shí)別與更換，減少人為操作干擾；
l 智能激光校準(zhǔn)：該功能將激光精確定位到懸臂梁的合適位置并進(jìn)一步分別優(yōu)化PSPD的垂直及橫向位置。您只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊，移動(dòng)下X,Y和Z軸便可得到不失真的高清掃描圖。
l 簡(jiǎn)化操作流程：Park SmartScan軟件支持預(yù)設(shè)參數(shù)，自動(dòng)完成掃描區(qū)域定位與高清成像。
2. 高精度掃描技術(shù)
l 平直正交XY軸掃描：采用串?dāng)_消除技術(shù)，減少掃描器弓形彎曲，支持樣品表面平直掃描；
l 獨(dú)立Z軸掃描器設(shè)計(jì)：結(jié)合低噪聲探測(cè)器（0.02 nm噪聲帶寬），實(shí)現(xiàn)納米級(jí)形貌測(cè)量；
l 非接觸掃描模式：True Non-Contact™模式避免針尖與樣品接觸，適用于軟性樣品分析。
3. 多功能與拓展性
l 多模式兼容：支持接觸模式、輕敲模式、磁力顯微鏡（MFM）、導(dǎo)電原子力顯微鏡（C-AFM）等模式，滿足電學(xué)、力學(xué)等分析需求；
l 環(huán)境監(jiān)測(cè)功能：內(nèi)置傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫度、濕度及振動(dòng)，輔助優(yōu)化實(shí)驗(yàn)條件；
4. 用戶友好設(shè)計(jì)
l 雙攝像頭系統(tǒng)：樣品與探針攝像頭協(xié)同定位，提升操作便捷性；
l 直觀軟件界面：Park SmartScanTM提供三步操作流程（預(yù)設(shè)、定位、成像），降低使用門檻；
儀器應(yīng)用
Park FX40憑借其技術(shù)特性，可服務(wù)于多個(gè)科研與工業(yè)領(lǐng)域：
1. 材料科學(xué)
2. 半導(dǎo)體與電子器件
3. 生命科學(xué)
4. 能源與催化
選擇Park FX40的優(yōu)勢(shì)？
l 操作便捷：簡(jiǎn)化傳統(tǒng)AFM的多步流程，提升實(shí)驗(yàn)效率；
l 數(shù)據(jù)可靠性：低噪聲探測(cè)與平直掃描技術(shù)支持高精度測(cè)量；
l 設(shè)計(jì)耐用性：非接觸模式可減少探針損耗；
茂默科學(xué)力求解決行業(yè)內(nèi)客戶對(duì)科學(xué)儀器選型難、維護(hù)難的處境。欲了解更多Park的產(chǎn)品，Welcome to consult~咨詢有驚喜哦！
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