淋浴噴頭通常有光澤的銀色外觀，人們可能會(huì)認(rèn)為是實(shí)心金屬。然而，它的基材通常是塑料的。典型的鍍層結(jié)構(gòu)是塑料基材上鍍鉻/鎳/銅。

裝飾性鉻鍍層在0.5μm甚至更小的范圍內(nèi)，鎳鍍層為5～10μm，銅層可達(dá)30μm甚至更厚。X射線熒光法（XRF）是一種無(wú)損的測(cè)量方法。
圖1 展示了放置在FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®上測(cè)量。使用一個(gè)用于測(cè)量塑料件上的鉻、鎳和銅鍍層的應(yīng)用程式來(lái)進(jìn)行測(cè)量。

以下幾點(diǎn) 圖2 該測(cè)量必須考慮： 將樣品對(duì)準(zhǔn)接收器（比例計(jì)數(shù)管）。
應(yīng)始終在高點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。此外，重要的是要知道接收器在測(cè)量?jī)x器中是在什么方向放置的。如果花灑與接收器方向一致，則測(cè)量位置的較小位移對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響不大。

避免傾斜
樣品不能傾斜，即待測(cè)位置必須絕對(duì)水平。必須特別注意這一要求，因?yàn)闃悠飞贤ǔ](méi)有絕對(duì)平坦的表面。
正確的聚焦在測(cè)量點(diǎn)上
如果測(cè)量點(diǎn)的聚焦不正確，那么軟件將會(huì)得到一個(gè)錯(cuò)誤的測(cè)量距離。這可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
XRF原理的飽和厚度
XRF法測(cè)量受到物理限制。如果鍍層的厚度過(guò)大，則存在飽和的風(fēng)險(xiǎn)。對(duì)于現(xiàn)有的測(cè)量應(yīng)用程序，可在裝有WinFTM®軟件的儀器上估算這個(gè)限制。
在圖3上可以看到, 在鉻鍍層和鎳鍍層厚度分別為0.2μm和7.5μm的前提下，確定了銅鍍層的測(cè)量范圍。它在鍍鉻層之下的測(cè)量范圍約為1至25μm。

如果仔細(xì)考慮所有的點(diǎn)，淋浴噴頭便可用XRF進(jìn)行無(wú)損測(cè)量。

此外，還可以選擇庫(kù)侖法測(cè)定Cr/Ni/Cu鍍層的厚度。在該方法中，在測(cè)量區(qū)域連續(xù)電解腐蝕掉涂層，并根據(jù)去除的時(shí)間在COULOSCOPE® CMS中確定涂層厚度。
表1顯示測(cè)量的鍍層厚度：在每個(gè)用庫(kù)侖測(cè)量的位置周圍用XRF儀器測(cè)量了四個(gè)位置。庫(kù)侖測(cè)量結(jié)果包括了對(duì)每個(gè)鍍層元素的測(cè)量。 這兩種方法測(cè)得的值非常接近，但有經(jīng)驗(yàn)的觀察者會(huì)注意到，兩種方法得出的結(jié)果并不*相同。
造成這種差異的原因可能是在XRF中樣品的測(cè)試位置不同；涂層的不均勻性也可能有一定影響。銅層的話，已經(jīng)接近XRF的飽和厚度也是事實(shí)，因此測(cè)量的不確定度會(huì)大大增加。

COULOSCOPE® CMS能夠測(cè)量厚度約為50μm的銅鍍層。因此，庫(kù)侖法可以作為XRF法的一個(gè)重要補(bǔ)充。