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組件衰減率指組件初始功率和組件當(dāng)前大輸出功率的差值和組件初始功率的比值，計(jì)算衰減率的關(guān)鍵就在組件初始功率和組件當(dāng)前大輸出功率這兩個(gè)參數(shù)的測(cè)量。

計(jì)算公式為：衰減率=組件初始功率/(組件初始功率-組件當(dāng)前大輸出功率)*100%

組件初始功率

是組件出廠測(cè)試得到的大輸出功率，是組件工廠實(shí)驗(yàn)室太陽(yáng)光模擬器測(cè)試得到。影響組件出廠測(cè)試的主要因素：1）環(huán)境溫度：由空調(diào)控制在25±2℃；2）測(cè)試設(shè)備：太陽(yáng)模擬器等級(jí)要求為AA*；3）校準(zhǔn)及標(biāo)準(zhǔn)組件：利用經(jīng)標(biāo)定的標(biāo)準(zhǔn)組件對(duì)太陽(yáng)模擬器進(jìn)行校準(zhǔn)，從而對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行修正。

組件當(dāng)前大輸出功率

指組件在運(yùn)行一段時(shí)間后測(cè)得的大輸出功率。通常應(yīng)排除如灰塵遮擋、組件缺陷等影響因素，測(cè)試組件本身的大輸出功率。在戶(hù)外測(cè)試組件大輸出功率，主要影響因素有以下幾點(diǎn)：

1）測(cè)試輻照度：對(duì)于線性器件應(yīng)在不低于800W/m2 的輻照度下進(jìn)行測(cè)試;

 2）測(cè)試溫度：對(duì)于一般背板結(jié)構(gòu)單玻組件，由背板溫度反映電池結(jié)溫; 

3）太陽(yáng)光譜：不同地區(qū)和環(huán)境會(huì)有不同的太陽(yáng)光譜，測(cè)量時(shí)應(yīng)與 AM 1.5 的光譜值進(jìn)行修正; 

4）組件入射角度：不同光照角度影響組件的發(fā)電性能，測(cè)量時(shí)應(yīng)考慮入射角對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響; 

5）測(cè)試設(shè)備：手持式戶(hù)外測(cè)試設(shè)備，需與輻照測(cè)試和溫度測(cè)試設(shè)備共同使用; 

6）參考器件：通常為封裝良好的 WPVS; 

7）測(cè)試結(jié)果修正：根據(jù) IEC60891 標(biāo)準(zhǔn)將戶(hù)外的輻照度和溫度修正至 STC條件下的結(jié)果。