目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測(cè)試儀>>鐵電材料測(cè)試儀>> TDZT-04C 鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀
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更新時(shí)間:2024-10-21 15:50:18瀏覽次數(shù):1123評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 交通,冶金,航天,汽車,電氣 |
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TDZT-04C 鐵電材料測(cè)試儀
關(guān)鍵詞:電滯回線,疲勞,脈沖,漏電流,
TDZT-04C鐵電測(cè)試儀通過全局總線進(jìn)行控制,可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù),可有效地降低電荷泄露造成的驅(qū)動(dòng)能力弱及電壓泄露隱患。高壓部分與低壓部分通過浮地結(jié)構(gòu)隔離,并在低壓部分配置有高壓放電管及附屬設(shè)施,從而避免因高壓泄露造成的損害。
本次研發(fā)采用DDS數(shù)字脈沖輸出技術(shù),可以在技術(shù)指標(biāo)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)正弦波,三角波,鋸齒波及方波脈沖的輸出。經(jīng)過高精度運(yùn)放對(duì)相關(guān)信號(hào)進(jìn)行放大和輸出。通過自研的升壓裝置輸出相應(yīng)的測(cè)試脈沖。由于選用器件具有更好的高頻響應(yīng)特性,可以保證在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)的線性輸出,保證高精度的測(cè)量結(jié)果。
一、產(chǎn)品介紹:
TDZT-04C鐵電材料測(cè)試儀是適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。
主要技術(shù)指標(biāo):
1.輸出信號(hào)電壓: 0~±2000V(特殊電壓可以定制)高精度24位的模數(shù)轉(zhuǎn)換器;內(nèi)部同步時(shí)鐘的響應(yīng)速度10us
2、測(cè)量頻率:0.03Hz~3kHz;
電荷測(cè)量解析度范圍: 20fC~200uC
3. .記憶特性測(cè)試參數(shù):
自帶內(nèi)部存儲(chǔ)曲線預(yù)設(shè)存儲(chǔ)器
多種脈沖系列測(cè)試鐵電體記憶特性
4. 可進(jìn)行漏電流-偏置電壓測(cè)試和漏電流-時(shí)間測(cè)試
5.電容范圍:1000nf~ 100nf, 精度: ≤1%。
6.電流范圍: 1nA~10A ,精度: ≤1%。
7、測(cè)試樣品:0-20mm 5個(gè)
8、高壓樣品池:2個(gè),一個(gè)封閉式:8CM*6CM 一個(gè)開放式:8CM*5CM
9、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái):直立式探針一套,角度式探針一套
10、電流:1-10倍放大,信號(hào):1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口:USB或BNC接口。
11.記憶特性測(cè)試參數(shù):自帶內(nèi)部存儲(chǔ)曲線預(yù)設(shè)存儲(chǔ)器
多種脈沖系列測(cè)試鐵電體記憶特性
12.漏電流測(cè)試:可進(jìn)行漏電流-偏置電壓測(cè)試和漏電流-時(shí)間測(cè)試
13.疲勞測(cè)試:大疲勞測(cè)量頻率: 20kHz
14、輸入及輸出接口:高品質(zhì)耐壓輸出端子,端口具備超壓放電功能
具備RS485數(shù)據(jù)輸出接口,并預(yù)留網(wǎng)絡(luò)接口
15. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,電阻測(cè)量,漏電流測(cè)量。
16.可以配合ZJ-3和ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)