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更新時(shí)間:2024-11-06 14:28:43瀏覽次數(shù):1019評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,航天,汽車 |
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DAD-4型交流法導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀
關(guān)鍵詞:電解質(zhì)溶液、導(dǎo)電凝膠、碳粉、石墨烯粉體漿料
DAD-4型交流法導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀是一種區(qū)別于直流法測(cè)試材料電阻率的新的測(cè)試方法,主要是針對(duì)于離子導(dǎo)電物質(zhì)(如電解質(zhì)溶液、導(dǎo)電凝膠)和導(dǎo)電粉體懸濁液(如碳粉、石墨烯粉體漿料)設(shè)計(jì)的電阻率測(cè)試儀器。適用范圍:廣泛應(yīng)用于科研單位、高等院校對(duì)凝膠、溶液、離子導(dǎo)電材料以及不適用于直流測(cè)試樣品的導(dǎo)電性能測(cè)試。
一、主要功能材料測(cè)試項(xiàng)目:
1、離子導(dǎo)電物質(zhì)(如電解質(zhì)溶液、導(dǎo)電凝膠)電阻率,電導(dǎo)率測(cè)試
2、導(dǎo)電粉體懸濁液(如碳粉、石墨烯粉體漿料)電阻率,電導(dǎo)率測(cè)試
3、可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或 PE 膜等基底薄膜涂層電阻率/方阻
二、符合:
符合:符合 GB/T 1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》
GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》
GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》等國(guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
三、 優(yōu)勢(shì)特征:
1、本測(cè)試儀特增設(shè)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類功能。
2、可定制 USB 通訊接口,便于其拓展為集成化測(cè)試系統(tǒng)中的測(cè)試模塊。
3、8 檔位超寬量程,行業(yè)。 同行一般為五到六檔位。
4、儀器小型化、手動(dòng)/自動(dòng)一體化。
5、儀器操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定,所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入,簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定。
6、 探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。
四、基本技術(shù)參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍
1、電阻率:2πS*(0.10Ωm~100kΩm),( S 針距,單位 m)
2、電阻:0.10Ω~100.0kΩ
3、 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
4、直 徑:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 180mm×180mm
5、手持方式不限. 長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,
6、測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
7、碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距 1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距 2.0mm,探針壓力: 0~
0.6kg 可調(diào)
8、電源:22V,DC 8.4V (充電鋰電池,大容量電池為廠家定制)
9、.外形尺寸、重量:
10、主 機(jī): 240mm(長(zhǎng))×130 mm(寬)×50mm(高), 凈 重:≤2.5kg
11、帶電腦軟件,可以保存、查詢、統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)和打印報(bào)告。
12、USB 通訊接口,通用性好、方便快捷。
13、可以配置ZJ-3型壓電測(cè)試儀進(jìn)行D33系數(shù)測(cè)試
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)