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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>先進(jìn)材料測試儀器>>介電測試>> JKZC-BMZD01薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖
  • 薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖
  • 薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖
參考價 5555
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
5555
≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 ACE/美國
  • 型號 JKZC-BMZD01
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2024-11-20 15:36:20瀏覽次數(shù):37評價

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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備,測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)器件的介電性能測量與分析,可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時計算獲得反

  

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗測試儀tgd

 

 

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗測試儀tgd

 

關(guān)鍵詞:介電常數(shù)(ε),損耗測試儀tgd),品質(zhì)因數(shù)(Q),頻率(f)

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

       JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗測試儀tgd是目前針對PVDF薄膜材料,是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀。是目前能夠處理的介電常數(shù)(ε)和介損(tgd)的圖譜。GB/T1693-2007主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tgd)和電容量( Cx)以,其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成,本電橋特別適應(yīng)測量各類絕緣油和絕緣材料的介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)。

   JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備,測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)器件的介電性能測量與分析,可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時計算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和損耗參數(shù)。

 

 

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

                            薄膜介電常數(shù)(ε)

 

薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測圖

 

                     薄膜介損(tgd)圖譜


 


三電極結(jié)構(gòu)設(shè)計:

微調(diào)千分尺:微調(diào)千分尺具備0.001mm的調(diào)節(jié)精度,可精細(xì)化調(diào)節(jié)上下電極之間的距離。

平行板測試電極:下電極固定在底部支撐座,上電極可由微調(diào)千分尺調(diào)節(jié)行程距離。上電極帶有保護(hù)電極。

上電極片:上電極標(biāo)配有2mm球頭電極、φ26.8mm圓片電極和φ38mm圓片電極。可根據(jù)樣品大小隨時更換。

鎖緊裝置:當(dāng)樣品放入上下電極之間后,可調(diào)節(jié)此鎖緊裝置,固定上下電極的調(diào)節(jié)行程。防止輕微移動引起的刻度偏差。

嚴(yán)格按照ASTM   D150國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計,電極表面鍍金處理,導(dǎo)電性能好、抗氧化,使用壽命更長

一、真正的三電極設(shè)計

介電夾具基于ASTM D150標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法,采用三電極法設(shè)計。上電極+下電極+保護(hù)電極,電極表面鍍金處理,導(dǎo)電性能好、抗氧化。為消除測試連接線阻抗及連接線之間相互耦合對測試的影響,儀器與夾具電極連接采用4端對法。

得益于測試線纜和電極引線的良好屏蔽,屏蔽層直達(dá)測試電,因此獲得更高的校準(zhǔn)頻率。

2.校準(zhǔn)頻率最高可達(dá)100MHz

適配的阻抗分析儀更加豐富,充分利用測試儀器的測試頻率范圍(20Hz-120MHz),以滿足測試樣品對更高頻率的要求。

3.高精度調(diào)節(jié)行程

適配高精度微調(diào)千分尺,可調(diào)精度為0.001mm,

上電極可調(diào)行程為12mm,并帶有鎖緊裝置,可有效鎖定當(dāng)前刻度位置,確保測試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

標(biāo)配26.8/38mm尺寸電極片,可滿足不同尺寸樣品測量,樣品安裝方便、簡單

主要技術(shù)參數(shù):

1、測試頻率:DC~100MHz

2、樣品要求:雙面涂覆電極,保持平整、光滑

3、樣品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10mm

4、電極圓片:無。有效面積:樣品上下涂覆電極垂直重疊部分面積

5、誤差分析:存在邊緣電容,樣品表面凹陷處被導(dǎo)電體填充

6、測試接口:4SMA母頭

7、上電極:φ2mm球頭電極+φ26.8mm圓片電極+φ38mm圓片電極

8、保護(hù)電極:上電極帶保護(hù)電極,電極表面鍍金

9、上電極壓力調(diào)節(jié):12mm行程調(diào)節(jié),用于上電極與樣品良好的電性能接觸

10、帶電極樣品尺寸:2mm≤φ≤60mm,厚度≤10m

11、設(shè)計標(biāo)準(zhǔn):ASTM D150D2149-97國際標(biāo)準(zhǔn),GB/T1409-2006國家標(biāo)準(zhǔn)

12、電極結(jié)構(gòu):兩平行板電極+保護(hù)電極,三電極結(jié)構(gòu)

13、電極引線:同軸屏蔽線,消除電磁干擾對測試影響

14、下電極:φ60mm鍍金圓片電極

15、上電極行程調(diào)節(jié):12mm行程調(diào)節(jié),用于樣品安裝

16、數(shù)據(jù)存儲:數(shù)據(jù)庫保存各類實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),同時輸出TXT、XLS、BMP等格式文件,對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)提供豐富的查詢與分析,輸出圖形與數(shù)據(jù)。

 

 

 

 



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