鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX 參考價(jià)：面議
本設(shè)備主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi)，并可記錄...
雙光束激光干涉儀 aixDBLI 參考價(jià)：面議
雙光束激光干涉儀專(zhuān)門(mén)用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。這一臺(tái)適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動(dòng)的系統(tǒng)用于8“晶圓上的M...
熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM 參考價(jià)：面議
熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。薄膜材料變溫范圍：-196℃...
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC 參考價(jià)：面議
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)...
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE 參考價(jià)：面議
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。包括：熱導(dǎo)率thermal conducti...
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB 參考價(jià)：面議
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)...
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 參考價(jià)：面議
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到8...
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR 參考價(jià)：面議
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR(MagnetoResistive Measurement)本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和...
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo 參考價(jià)：面議
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。大信...
Keithley DMM6500 6位觸摸屏數(shù)字萬(wàn)用表 參考價(jià)：面議
Keithley DMM6500 6位半圖形觸摸屏數(shù)字萬(wàn)用表Keithley DMMDMM6500 6位半圖形觸摸屏數(shù)字萬(wàn)用表觸摸屏工作
KEITHLEY 2450型數(shù)字源表 參考價(jià)：面議
KEITHLEY2450型觸摸屏數(shù)字源表是吉時(shí)利新一代數(shù)字源表(SMU)儀器。新型的圖表化用戶界面(GUI)和電容觸摸屏技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了直觀使用和學(xué)習(xí)曲線簡(jiǎn)便化，支...
AE-300型電弧燒蝕測(cè)試裝置 參考價(jià)：面議
觸頭是開(kāi)關(guān)電器的關(guān)鍵部件之一，開(kāi)關(guān)電器的主要性能及壽命的長(zhǎng)短，在很大程度上取決于觸頭材料的好壞。隨著輸變電網(wǎng)的大容量超高壓的發(fā)展，低壓配電系統(tǒng)與控制系統(tǒng)對(duì)自動(dòng)化...
ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是一款專(zhuān)為測(cè)試高壓下鐵電材料表面溫度變化的測(cè)量系統(tǒng)。通過(guò)添加在材料表面的電場(chǎng)值變化，探測(cè)材料的溫度值變化。本系統(tǒng)由真空系統(tǒng)與溫...
?JGWDZ-1000型金屬材料高溫電阻測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
JGWDZ-1000型金屬材料高溫電阻測(cè)量系統(tǒng)
GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng)是一款專(zhuān)為實(shí)驗(yàn)室研制的高精度高溫高壓壓電容測(cè)試系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)的測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)...
YDZ-01壓電材料電阻率綜合測(cè)試儀（常溫） 參考價(jià)：面議
YDZ-01壓電材料電阻率測(cè)試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測(cè)量。也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。該儀器采用環(huán)形三電...
MXG-RT300毛細(xì)管樣品冷熱臺(tái) 參考價(jià)：面議
MXG-RT300為毛細(xì)管樣品而設(shè)計(jì)，此產(chǎn)品可用于顯微鏡/光譜儀，可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫，同時(shí)允許光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。熱臺(tái)上蓋與底殼...
DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體C測(cè)試裝置 參考價(jià)：面議
DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體冷熱臺(tái)測(cè)試裝置DLTB-600測(cè)量地質(zhì)流體包裹體的均一化溫度和冰點(diǎn)溫度是地質(zhì)流體包裹體研究中一項(xiàng)重要的內(nèi)容。巖礦鑒定，包裹體均一...
WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱關(guān)鍵詞：微型，實(shí)驗(yàn)級(jí)，高低溫，壓電陶瓷
KJ-SPC-3000小型半自動(dòng)絲網(wǎng)印刷機(jī) 參考價(jià)：面議
KJ-SPC-3000系列是一款小型半自動(dòng)絲網(wǎng)印刷機(jī)，采用微電腦式單片機(jī)控制，可進(jìn)行手動(dòng)或半自動(dòng)兩種模式的絲網(wǎng)印刷。工作臺(tái)帶吸氣孔，可吸附薄膜基底，大印刷面積為...
BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)）BWGP-2000變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試樣品在低溫和高溫下光譜發(fā)射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可...
JKRY-1000小型高溫?zé)釅簷C(jī)（溫度1100°C） 參考價(jià)：面議
JKRY-1000小型高溫?zé)釅簷C(jī)（溫度1100°C）
GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐 參考價(jià)：面議
GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐是具有一定溫度梯度的熱處理爐，將玻璃試樣放在梯溫爐內(nèi)保溫一定時(shí)間，隨后在空氣中冷卻，通過(guò)確定析晶位置和對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)梯溫曲線，測(cè)定...
FJSRH-100型非金屬熔接焊機(jī)檢測(cè)校準(zhǔn)裝置 參考價(jià)：面議
非金屬壓力管道屬于特種設(shè)備。其安裝、維修的質(zhì)量對(duì)于工程安全至關(guān)重要。在非金屬壓力管道無(wú)損檢測(cè)技術(shù)尚不健全的現(xiàn)在，對(duì)非金屬壓力管道焊接設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)校準(zhǔn)，是控制非金...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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