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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2024-02-26 10:45:35瀏覽次數(shù)：780
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,交通,航天,汽車 |
Fischer DualScope MP0測厚儀型號
Fischer DualScope MP0測厚儀型號
DualScope MP0測厚儀是法國進口的精密小型涂層測厚儀，小巧便攜，測量快速，雙面背光LCD顯示—大型顯示面板及機頂上顯示板-可以安全及方便地從任何角度看到測量鍍層厚度的讀數(shù)，利用符合DIN EN ISO 2178標(biāo)準(zhǔn)的電磁場感應(yīng)方法,可測量鋅、鉻、銅、油漆、光油、纖維等涂鍍層在鋼和鐵的材料上的厚度。
參數(shù)信息：
非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層有；鋁上的陽極氧化層有；鋼或鐵上的儀器、瓷漆或塑料涂層有；鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層有；數(shù)據(jù)儲存有；統(tǒng)計計算有；打印口/RS232接口有；無線傳輸有；可更換插入式智慧型探頭無；集成恒壓探頭有；測量范圍（μm）(0 ... 2000)；電源電池；規(guī)格(高x寬x深mm) (85 x 64 x 30)；儀器能夠自動辨認(rèn)金屬底材物料而選擇合適的測量方法。
性能特色：
MP0涂層測厚儀是一款為快速且簡便測量而設(shè)計的測厚儀。mpor涂層測厚儀這一款經(jīng)濟型的測厚儀可以準(zhǔn)確地和方便地在2個液晶顯示器上顯示鍍層、涂層厚度的讀數(shù)：一塊大的位于前部面板，另一塊位于上部面板。mpor涂層測厚儀*的符合人類工程學(xué)設(shè)計的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作，mpor涂層測厚儀可以進行測量數(shù)據(jù)統(tǒng)計評估以及在10-20 m（33-66 feet）的距離范圍內(nèi)將測量數(shù)據(jù)在線或離線的無線傳輸至計算機的內(nèi)置無線電發(fā)射器。DUALSCOPE MP0R涂層測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法，被用來測量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。mpor涂層測厚儀能自動地識別被測材料并選擇適合的測試方法
基本規(guī)格：
外型尺寸（寬x高x厚）244毫米x 182毫米x 57毫米（9.6英寸x 7.1英寸x 2.1英寸）
重量1.2公斤（2.6磅）
接口：1個OmniScan®渦流陣列探頭接口；1個19針Fischer®渦流探頭接口；1個BNC接口
通道數(shù)量：32個通道，帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器；64個通道，帶外置多路轉(zhuǎn)換器
探頭識別和設(shè)置：
發(fā)生器發(fā)生器數(shù)量：1個（帶內(nèi)置電子參考）
zui大電壓12 Vp-p，10Ω
工作頻率20 Hz?6 MHz
帶寬8 Hz?5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關(guān)系，并通過儀器在多路模式下設(shè)定。
類型 | 產(chǎn)品型號 | 簡介 |
| 袖珍式儀器 | DUALSCOPE MP0 | 基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。 |
| 袖珍式儀器 | DUALSCOPE MP0R | 基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。 |
| 袖珍式儀器 | DUALSCOPE MP0R-FP | 基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量 |
| 手持式儀器 | DELTASCOPE FMP10 | 用于測量非鐵磁性金屬涂層，例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。 （采用磁感應(yīng)法，符合DIN EN ISO 2178，ASTM D7091 標(biāo)準(zhǔn)） |
| 手持式儀器 | ISOSCOPE FMP10 | 用于測量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層，鋁上的陽極氧化膜和導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層。 （采用電渦流法測量，符合DIN EN ISO 2360, ASTM D7091標(biāo)準(zhǔn)） |
| 手持式儀器 | DUALSCOPE FMP20 | 自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進行測量 |
| 手持式儀器 | DELTASCOPE FMP30 | 用于測量非鐵磁性金屬涂層，例如鋼鐵上的鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層。 （采用磁感應(yīng)法，符合DIN EN ISO 2178，ASTM D7091標(biāo)準(zhǔn)） |
| 手持式儀器 | ISOSCOPE FMP30 | 用于測量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層，鋁上的陽極氧化膜和導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層。 （采用電渦流法測量，符合 DIN EN ISO 2360, ASTM D7091標(biāo)準(zhǔn)） |
| 手持式儀器 | DUALSCOPE FMP40 | 自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和導(dǎo)電基材上的涂層進行測量。 |
| 手持式儀器 | DUALSCOPE FMP100 | 自動識別基材，將兩種測量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進行測量。 |
| 手持式儀器 | DUALSCOPE FMP15O | 一臺儀器具有三種測量方法（電渦流法、磁感應(yīng)和霍爾效應(yīng)）。 采用霍爾效應(yīng)，擴展了可測量范圍。 所有模塊都根據(jù) DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)進行測量 |
| 手持式儀器 | PHASCOPE PMP10 | 手持式設(shè)備，用于非破壞性的測量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度 |
| 手持式儀器 | PHASCOPE PMP10 DUPLEX | 可無損測量鋼鐵上雙涂層（鍍鋅再鍍漆）厚度的手持式儀器 |
| 臺式儀器 | FISCHERSCOPE MMS PC2 | 臺式設(shè)備，用于通用的涂層厚度測量和材料測試，具有彩色觸摸屏、可進行個性化配置并帶有各種設(shè)備接口 |
| β射線反向散射法 | BETASCOPE | BETASCOPE作為臺式儀器MMS和MMS PC2的測量模塊，是根據(jù)β背散射法，由不同材料間的差異，來測量涂鍍層厚度的，特別適用于測量較薄的有機涂層。 |
| 庫倫法 | COULOSCOPE CMS | 臺式儀器，使用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，無論鍍層結(jié)構(gòu)是單鍍層還是多鍍層。 |
| 庫倫法 | COULOSCOPE CMS STEP | 測量法對多層涂鍍層系統(tǒng)的電位差進行測量，以及用于金屬或非金屬基材上所有的金屬涂鍍層的庫侖電量涂鍍層厚度測量（單層或多層系統(tǒng)） |
| 微電阻法 | SR-SCOPE RMP30-S | 用于測量線路板上銅層厚度的手持式儀器，它無損、快速、并且不會受到背面銅層的影響。 |
| 探頭 | 高精度探頭 | 任何一個電磁測量系統(tǒng)的核心都會是探頭，其信號質(zhì)量zui終決定了計量方案的整體測量質(zhì)量。 進過多年的研發(fā)和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務(wù)中實現(xiàn)具有zui高度的測量結(jié)果 |
