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原子吸收光度計(jì)在使用過(guò)程中會(huì)受到以下因素干擾
原子吸收光度計(jì)是根據(jù)物質(zhì)基態(tài)原子蒸汽對(duì)特征輻射吸收的作用來(lái)進(jìn)行金屬元素分析，它能夠靈敏可靠地測(cè)定微量或痕量元素。該儀器一般由四大部分組成，即光源（單色銳線輻射源）、試樣原子化器、單色儀和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)（包括光電轉(zhuǎn)換器及相應(yīng)的檢測(cè)裝置）。
當(dāng)在兩極之間施加200V-500V電壓時(shí)，便產(chǎn)生輝光放電。在電場(chǎng)作用下，電子在飛向陽(yáng)極的途中，與載氣原子碰撞并使之電離，放出二次電子，使電子與正離子數(shù)目增加，以維持放電。正離子從電場(chǎng)獲得動(dòng)能。
如果正離子的動(dòng)能足以克服金屬陰極表面的晶格能，當(dāng)其撞擊在陰極表面時(shí)，就可以將原子從晶格中濺射出來(lái)。除濺射作用之外，陰極受熱也要導(dǎo)致陰極表面元素的熱蒸發(fā)。濺射與蒸發(fā)出來(lái)的原子進(jìn)入空腔內(nèi)，再與電子、原子、離子等發(fā)生第二類碰撞而受到激發(fā)，發(fā)射出相應(yīng)元素的特征的共振輻射。
原子吸收光度計(jì)在使用過(guò)程中，會(huì)受到以下因素的干擾：
1、光譜干擾：此干擾主要是樣品中存在其它元素造成的干擾。此干擾近年來(lái)因中空陰極射線技術(shù)的提升已很少發(fā)生。
2、基質(zhì)干擾：一般此干擾原因有：
?。?）溶液中含有機(jī)溶劑而造成吸收度的增加。
?。?）因溶液的黏滯性較高因霧化效率下降而造成吸收度下降。
?。?）溶液的鹽度較高而造成吸收度下降。
3、化學(xué)干擾：此干擾常發(fā)生于利用原子吸收來(lái)分析鎂、鈣、鍶及鋇等金屬。常見的干擾物種有硅酸鹽、磷酸鹽及鋁酸鹽等化合物。一般解決的方法有兩種，一為利用螯合劑(EDTA)與金屬錯(cuò)合，二為添加氯化鑭與造成干擾的陰離子錯(cuò)合或者可利用笑氣-乙炔來(lái)解決化學(xué)干擾的問(wèn)題。
4、放射干擾：此干擾主要來(lái)自于樣品放射出與欲吸收的波長(zhǎng)相同。此干擾可藉由提高電流強(qiáng)度或降低狹縫寬度來(lái)解決。
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