產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)

德國(guó)Elektrophysik測(cè)厚儀: epk庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀德國(guó)epk epk爐壁測(cè)厚儀 epk路面測(cè)厚儀德國(guó)epk超聲波測(cè)厚儀德國(guó)epk測(cè)厚儀 epk其他儀器 epk壁厚儀 epk膜厚儀 EPK板厚測(cè)量?jī)x EPK塑料瓶壁厚測(cè)量?jī)x EPK非導(dǎo)電基材涂層測(cè)厚儀 EPK筆試涂層測(cè)厚儀 Elektrophysik測(cè)厚儀 EPK測(cè)厚儀 EPK霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀 EPK麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀 EPK超聲波測(cè)厚儀 EPK涂層測(cè)厚儀 MiniTest 600測(cè)厚儀 elektrophysik MiniTest 600BFN測(cè)厚儀

英國(guó)Taylor Hobson泰勒粗糙度儀: 泰勒輪廓儀 Taylor Hobson粗糙度儀 Surtronic DUO粗糙度儀 Surtronic S116粗糙度儀 Surtronic S128 粗糙度儀

德國(guó)Fischer菲希爾: Fischer庫(kù)侖測(cè)厚儀菲希爾鍍鎳測(cè)厚儀 x射線熒光測(cè)厚儀菲希爾銅層測(cè)厚儀鐵素體含量檢測(cè)儀菲希爾電導(dǎo)率儀菲希爾測(cè)厚儀 Fischer測(cè)厚儀

英國(guó)易高Elcometer測(cè)厚儀: 易高干膜測(cè)厚儀易高附著力測(cè)試儀易高孔隙率測(cè)試儀易高涂層測(cè)厚儀

德國(guó)馬爾 Mahr: 德國(guó)馬爾測(cè)高儀德國(guó)馬爾薄膜測(cè)厚儀馬爾代理 Mahr粗糙度儀德國(guó)馬爾粗糙度儀

德國(guó)尼克斯QNix: 尼克斯涂層測(cè)厚儀尼克斯車(chē)漆檢測(cè)儀 qnix漆膜測(cè)厚儀尼克斯油漆測(cè)厚儀尼克斯測(cè)厚儀

日本三豐: 三豐測(cè)高儀日本三豐粗糙度儀

日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA: 小型色差計(jì)

美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè): 美國(guó)GE-德國(guó)KK硬度計(jì) ge超聲波探傷儀 ge超聲波測(cè)厚儀

德國(guó)BYK: byk多功能干膜測(cè)厚儀 byk劃格試驗(yàn)器德國(guó)byk測(cè)厚儀 byk微型光澤儀系列德國(guó)byk光澤度儀

美國(guó)FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng): flir測(cè)溫儀菲力爾熱成像儀 FLIR紅外熱像儀

上海尚材 SCTMC: 維氏硬度計(jì) 洛氏硬度計(jì) 布氏硬度計(jì)

北京時(shí)代 TIME: 時(shí)代測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀粗糙度儀邵氏硬度計(jì) 里氏硬度計(jì)

瑞士Wyler: 測(cè)傾傳感器電子角度儀電子水平儀

美國(guó)狄夫斯高: 狄夫斯高粉末涂層測(cè)厚儀狄夫斯高混凝土測(cè)厚儀狄夫斯高超聲波涂層測(cè)厚儀附著力測(cè)試儀狄夫斯高涂層測(cè)厚儀粗糙度儀

美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì): 美國(guó)Mark-10測(cè)量?jī)x 美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)

森薩帕特Sensopart: 超聲波傳感器

英國(guó)雷尼紹: 三坐標(biāo)掃描式測(cè)頭三坐標(biāo)觸發(fā)式測(cè)頭

瑞士TRIMOS: 瑞士TRIMOS高度計(jì) 瑞士TRIMOS測(cè)高儀

德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾: 霍梅爾粗糙度儀

英國(guó)牛津Oxford: 英國(guó)牛津Oxford測(cè)厚儀

美國(guó)雷泰 Raytek: 美國(guó)雷泰紅外測(cè)溫儀

美國(guó)Fluke 福祿克

香港嘉怡CanNeed: 嘉怡壁厚測(cè)量?jī)x

美國(guó)api: api激光跟蹤儀 xd激光干涉儀

杭州思看科技: 思看三維掃描儀

德國(guó)BYK光澤度儀4563信息

時(shí)間：2025/4/30閱讀：87

德國(guó)BYK4563符合標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 2813, 7668

ASTM D 523, D 2457

DIN 67530

JIS Z 8741

BYK-4563三角度光澤度儀技術(shù)特點(diǎn)：

德國(guó)BYK光澤度儀4563測(cè)量范圍：0-2000GU

德國(guó)BYK光澤度儀4563重復(fù)性:0-100GU ±0.2GU;100-2000GU ±0.2%

重現(xiàn)性:0-100GU ±0.5GU;100-2000GU ±0.5%

光路：20°、60°、85°(高、中、低光澤)

測(cè)量面積：9X15mm

光譜敏感度:CIE standard observer for illuminant CIE-C

連續(xù)模式：實(shí)測(cè)值、平均值

差值模式：50個(gè)附有允差的標(biāo)準(zhǔn)記憶

統(tǒng)計(jì)模式：每個(gè)樣品測(cè)量點(diǎn)的個(gè)數(shù)從2-99可選擇三行顯示可選擇：實(shí)測(cè)值、平均值、差幅值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、差值、合格/不合格

記憶：帶有日期和時(shí)間的999個(gè)讀數(shù)記憶功能

接口：串口RS232

軟件：easy-link

測(cè)量時(shí)間：0.5秒/角度

尺寸：160x60x30mm

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德國(guó)BYK光澤度儀4563信息

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