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涂鍍層測(cè)厚儀MINITEST 600符合DIN、ISO、BS、ASTM標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)量范圍 | F型 0-3000μm |
N型 0-2000μm | |
FN 型 （兩用型） 0-2000μm | |
允許誤差： | ±（2%讀值+2μm） |
zui小曲率半徑： | 5mm（凸）25mm（凹） |
zui小測(cè)量面積： | φ20mm |
zui小基體厚度： | 0.5mm（對(duì)F型），50μm（對(duì)N型） |
顯示： | 4 位數(shù)字（字高11mm） |
測(cè)量單位： | μm-mils可選 |
校準(zhǔn)方式： | 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn) |
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)： | 平均值x 、s標(biāo)準(zhǔn)偏差、讀數(shù)個(gè)數(shù)n（zui多9.999個(gè)）、zui大值max、zui小值min |
接口： | RS-232（不適用于B型） |
電源： | 2節(jié)5號(hào)堿電池，至少測(cè)量1萬(wàn)次 |
儀器尺寸： | 64mm× 115mm ×25mm |
測(cè)頭尺寸： | φ15mm ×62mm
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涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：
涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型：
1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。
2.渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
3.超聲波測(cè)厚法：適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。
4.電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。
5.放射測(cè)厚法：此處儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。