雷尼紹三坐標(biāo)觸發(fā)式測(cè)頭SP600授權(quán)經(jīng)銷商

掃描原理
掃描測(cè)量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。
觸發(fā)式測(cè)頭可采集表面離散點(diǎn)，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個(gè)誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對(duì)復(fù)雜表面進(jìn)行檢測(cè)，掃描測(cè)量可謂理想之選。
掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計(jì)、機(jī)器控制和數(shù)據(jù)分析方法。
雷尼紹掃描測(cè)頭*特色的輕巧無(wú)電源機(jī)構(gòu)具有高固有頻率，適合高速掃描測(cè)量。分離的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)直接（無(wú)需通過測(cè)頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸）測(cè)量測(cè)針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。
掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)？
掃描測(cè)頭提供連續(xù)的偏移量輸出，與機(jī)器位置相結(jié)合，從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進(jìn)行掃描測(cè)量時(shí)，測(cè)頭測(cè)尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動(dòng)，采集測(cè)量數(shù)據(jù)。在整個(gè)測(cè)量過程中，須將測(cè)頭測(cè)針的偏移量保持在測(cè)頭的測(cè)量范圍內(nèi)。
要想取得測(cè)量結(jié)果，需要傳感器與機(jī)器控制緊密集成，以及良好的濾波運(yùn)算，以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動(dòng)算法適用于工件輪廓測(cè)量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率（表面變化越快，采集的數(shù)據(jù)越多）。

特性與優(yōu)點(diǎn)：
300 mm/s的高速掃描、快速點(diǎn)測(cè)量和高頻率響應(yīng)。
測(cè)力低，極大提高了應(yīng)用的靈活性。
極其堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)，使系統(tǒng)能夠承受中等強(qiáng)度的碰撞。
成本低，優(yōu)異的產(chǎn)品使用壽命（工作時(shí)間超過50 000小時(shí)）。
低質(zhì)量、高結(jié)構(gòu)剛性和無(wú)摩擦粘性減振的特性帶來(lái)的動(dòng)態(tài)性能。
SP600規(guī)格：
適合的接口 →    AC2模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換器計(jì)算機(jī)接口卡
測(cè)頭屬性 → 三軸測(cè)量 (X, Y, Z) ，在所有軸的線性和平行運(yùn)動(dòng)
測(cè)量范圍 →    ±1 mm (X, Y, Z)
超程范圍 →    X、Y和–Z軸由機(jī)械結(jié)構(gòu)式接頭提供保護(hù)
分辨率 →    選用AC2接口卡時(shí)為0.1 μm
彈簧剛性 →    標(biāo)稱值為1.2 N/mm（X、Y和Z）
減振 →    23 °C時(shí)通常為20% (X, Y, Z)
工作溫度 →    10 °C (50 °F) 至 40 °C (104 °F)
電源 →    +12 V至-12 V，5 V (±10%)
輸出 (X,Y,Z)    模擬比例電壓輸出標(biāo)定：4 V至8.5 V/mm
測(cè)針系列 →    M4

篤摯儀器（上海）有限公司始終堅(jiān)持“品質(zhì)，服務(wù)，敬業(yè)，感恩"8字理念。吸收國(guó)內(nèi)外優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)口，*的服務(wù)跟蹤，堅(jiān)持輸出高品質(zhì)產(chǎn)品。本著“技術(shù)、質(zhì)量、服務(wù)"六字宗旨，不斷完善產(chǎn)品，提高服務(wù)，為企業(yè)提供高效的無(wú)損檢測(cè)方案。我們以質(zhì)量為生命、時(shí)間為信譽(yù)、價(jià)格為競(jìng)爭(zhēng)力的經(jīng)營(yíng)信念。