菲希爾Fischer測厚儀XUL220/X射線

x射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分

常用于無損測量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

·在小部件，如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

·在連接器和電氣元件上的測量

·電鍍液的溶液成分分析

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。