BeNano 180納米粒度儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向173°角檢測樣品顆粒布朗運(yùn)動造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動，再通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)一步利用斯托克斯-愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。

基本性能指標(biāo)

檢測參數(shù)

• 顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

• 分子量

• 分布系數(shù)PD.I

• 擴(kuò)散系數(shù)D

• 流體力學(xué)直徑DH

• 顆粒間相互作用力因子kD

• 溶液粘度

檢測技術(shù)

• 動態(tài)光散射

• 靜態(tài)光散射

相關(guān)技術(shù)

相關(guān)應(yīng)用