microprobes IMP-2A 阻抗測試儀外部電流或電壓源可用于清除金屬筆尖上的碎屑或破壞可能導(dǎo)致阻抗讀數(shù)變高的氧化層，氣泡測試或降低筆尖阻抗。前面板校準(zhǔn)電位計允許使用外部電阻器輕松地在任何范圍上校準(zhǔn)設(shè)備，或者可以使用前面板校準(zhǔn)按鈕來校準(zhǔn)IMP 2A和IMP-2A-MC。電池測試開關(guān)將指示模擬儀表的電池壽命。

microprobes IMP-2A 阻抗測試儀

microprobes IMP-2A 阻抗測試儀

 

特性IMP-2A

• 單通道阻抗測試儀。
• 4個量程-準(zhǔn)確度從1k到5兆歐。
• 標(biāo)準(zhǔn)1 khz測試頻率。
• 可以在體內(nèi)安全使用。
• 方便攜帶。
• 電池供電。

 IMP-2A-MC 18通道

特性IMP-2A-MC

• 18個通道阻抗測試儀。
• 4個量程-準(zhǔn)確度從1k到5兆歐。
• 標(biāo)準(zhǔn)1 khz測試頻率。
• 可以在體內(nèi)安全使用。
• 方便攜帶。
• 電池供電。

 

描述

我們的十八通道阻抗測試儀將大大加快植入前和植入后FMA以及其他類型的多電極陣列的阻抗檢查。

研究人員可以其特定的多電極組件所需的連接到電纜的連接器型號，無論是0.05“或0.025”的納米Omnetics連接器，還是其他公司的另一個連接器系統(tǒng)。它可以測量1千瓦至5兆歐之間的阻抗值，并將該值顯示在易于讀取的質(zhì)量模擬儀表上。提供了一個開關(guān)，IMP-2A-MC在一個位置將測試電極的阻抗，而在另一位置將允許從外部提供的電流或電壓源施加到電極。

外部電流或電壓源可用于清除金屬筆尖上的碎屑或破壞可能導(dǎo)致阻抗讀數(shù)變高的氧化層，氣泡測試或降低筆尖阻抗。前面板校準(zhǔn)電位計允許使用外部電阻器輕松地在任何范圍上校準(zhǔn)設(shè)備，或者可以使用前面板校準(zhǔn)按鈕來校準(zhǔn)IMP 2A和IMP-2A-MC。電池測試開關(guān)將指示模擬儀表的電池壽命。

單通道阻抗測試儀的工作規(guī)格與十八通道IMP-2A-MC相同，但只有一個輸入連接器。輸入和參考連接器的電纜配有方便的鱷魚夾，用于連接到電極。

技術(shù)指標(biāo)

IMP-2A-MC / IMP-2A
項目	描述
正弦波頻率	1千赫茲
測試電流	介于24nA至24µA之間（取決于所選的阻抗范圍）
阻抗測試范圍	零至5兆歐
電纜	三腳電纜，帶25針D-Sub面板連接器和用戶的植入物連接器（僅IMP-2A-MC）
準(zhǔn)確性	誤差小于10％
電源要求	兩節(jié)9伏堿性晶體管電池
電池壽命	大于50小時
尺寸	寬8.75英寸（寬）3.5英寸（高）6.5英寸（深）
重量	1.5磅

 

此款產(chǎn)品不用于醫(yī)療，不用于臨床使用，此產(chǎn)品僅用于科研使用。