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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產品： 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2024-09-01 11:02:21瀏覽次數：3117
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TP200系統組件包括：
REVO®五軸測量多類型傳感器系統雷尼紹的測頭測量系統經過精心設計， 選用雷尼紹的全系列測針時性能**。 下列測頭全部使用M2螺紋測針， 但配備適當的轉接頭也可使用其他螺紋規(guī)格的測針。
TP2
• TP20
• TP200
TP200探頭
TP200探頭結合了應變片技術，提供了出色的重復性和準確的三維形式測量，即使是長樣式。探頭內的固態(tài)ASIC（應用集成電路）電子設備確保數百萬觸發(fā)點的可靠運行。觸針模塊通過高重復性磁運動接頭安裝在探針上，提供快速更換觸針的能力和探針超程保護。有三個觸針模塊可提供兩種不同的超程力。標準力（SF）模塊適用于大多數應用。低力（LF）模塊建議用于小型精密球造型或精密材料。擴展超程（EO）模塊與標準模塊具有相同的超程力，但在Z軸上增加了8 mm的超程，以防損壞。
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應用 | 用于需要高精度的數控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但當出現誤觸發(fā)事件時。 |
感應方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm |
XY (2D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm | 電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm |
測針交換的重復性 | SCR200：±0.50 µm（大） 手動：±1 µm（大） | SCR200：±0.50 µm（大） 手動：±1 µm（大） |
測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
過行程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。
模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|---|---|---|
應用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
