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高速雙折射測(cè)量 PA-200,PA-200-L
低相位差(如玻璃)的全面測(cè)試
針對(duì)相位差差別比較小的樣品,要求測(cè)量速度高的應(yīng)用,專門開發(fā)了PA系列的產(chǎn)品,測(cè)量速度快是核心。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
產(chǎn)品特點(diǎn):
曲線圖功能
CSV格式輸出
軸相位差顯示
縮放鏡頭功能
l 用于低相位差樣品測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)。
l 適用于檢測(cè)玻璃的應(yīng)力或者透明晶片(如藍(lán)寶石、SiC和GaN)的內(nèi)部缺陷。
型號(hào) | PA-200 | PA-200-L |
測(cè)量范圍 | 0-130nm | |
重復(fù)性 | <1.0nm | |
像素?cái)?shù) | 1120x868 | |
測(cè)量波長(zhǎng) | 520nm | |
尺寸 | 310x395x605.5mm | 450x538x915.5mm |
觀測(cè)到的zui大面積 | 100x136mm | 250x300mm |
重量 | 18kg | 24kg |
數(shù)據(jù)接口 | GigE(攝像機(jī)信號(hào)) RS232C(電機(jī)控制) | |
電壓電流 | AC100-240V(50/60Hz) | |
軟件 | PA-View |
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