目錄:深圳市優(yōu)測科技有限公司>>近場探頭>>EM5030近場探頭>> EM5030E近場探頭EM5030E
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
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一、近場探頭EM5030E概述
EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應(yīng)用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號比較弱時(shí)，可以配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
二、近場探頭EM5030E參數(shù)
三、應(yīng)用
1.EMI輻射干擾源定位
2.磁場強(qiáng)度檢測
四、授權(quán)證書
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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