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泄漏電流試驗(yàn)設(shè)備接線(xiàn)方法及結(jié)果判斷
閱讀：1413 發(fā)布時(shí)間：2024-6-251、泄漏電流的定義：在高電壓的作用下流過(guò)電器絕緣表面的的電流。
2、試驗(yàn)設(shè)備：通常是在做直流耐壓試驗(yàn)的同時(shí)，利用被試品回路串聯(lián)的直流微安表。
注:
1、測(cè)量泄露電流與測(cè)量絕緣電阻的原理相同，只是前者在更高電壓下進(jìn)行，電壓可以任意調(diào)節(jié)。
2、做試驗(yàn)時(shí)加直流電壓。
3、對(duì)于良好的絕緣，泄露電流隨電壓而直線(xiàn)上升，而且電流值較小，電流上升得慢。
4、如果絕緣受潮，那么電流值加大，電流上升得快。
5、如果泄露電流隨電壓而直線(xiàn)上升到一定的位置出現(xiàn)轉(zhuǎn)折且迅速上升，則絕緣中有集中性缺陷。
6、如果在試驗(yàn)電壓Us的一半附近泄漏電流已經(jīng)迅速上升，則這臺(tái)發(fā)電機(jī)在運(yùn)行時(shí)有擊穿的危險(xiǎn)。
3、試驗(yàn)接線(xiàn)方式：微安表接于低壓側(cè)，微安表接于高壓側(cè)。
接于高壓側(cè)：
AV 調(diào)壓器：調(diào)節(jié)電壓。
T 試驗(yàn)變壓器：升高電壓。
V 高壓硅堆:：整流。
C 濾波電容：減小直流的電壓脈動(dòng)（用以使整流電壓平穩(wěn)當(dāng)被試品的電容Cx較大時(shí)， C可以不加，當(dāng)Cx較小時(shí)，C可取0.1uF左右)，C≥0.1uf。
R 保護(hù)電阻：用以限制被試品擊穿時(shí)短路電流以保護(hù)變壓器和高壓硅堆，其值可按10/V選取。
注意事項(xiàng)：
1、大容量的被測(cè)試品，如發(fā)電機(jī)、電纜等可以不加濾波電容；
2、適合被測(cè)試品的一端接地，此時(shí)微安表具有高電位，讀數(shù)時(shí)必須保持足夠的距離 ，調(diào)整微安表的量程必須使用絕緣棒。
3、為使微安表到被測(cè)試品的連線(xiàn)上產(chǎn)生電暈電流及沿微安表絕緣支柱表面的泄露電流不流過(guò)微安表，需將微安表及uA到被測(cè)試品的高壓引線(xiàn)屏蔽起來(lái)，并將其余微安表到高壓二極管的引線(xiàn)連接。
微安表接于低壓側(cè)：
注：此時(shí)微安表上的電位很低，讀數(shù)和轉(zhuǎn)換量程都很方便，但這種接線(xiàn)要求被試品的兩極都不能接地，僅適合于那些接端無(wú)水印可與地分開(kāi)的電氣設(shè)備。
試驗(yàn)結(jié)果分析：
和絕緣電阻一樣，測(cè)量泄露電流后也要經(jīng)過(guò)比較才能判斷絕緣的狀況，比較時(shí)也必須換算到同一溫度下。對(duì)某些設(shè)備，其泄露電流值試驗(yàn)規(guī)程中有明確的規(guī)定，這時(shí)應(yīng)根據(jù)測(cè)量值是否小于規(guī)定值來(lái)判斷絕緣的狀況。對(duì)試驗(yàn)規(guī)程中沒(méi)有明確規(guī)定泄漏電流值的設(shè)備，可與歷年試驗(yàn)結(jié)果相比較；與同型設(shè)備比較；同一設(shè)備各相間相互比較，視泄露電流的變化情況作出絕緣狀況判斷。對(duì)于發(fā)電機(jī)、變壓器等重要設(shè)備，還可將泄露電流與所加直流電壓和泄露電流隨時(shí)間的變化關(guān)系繪成曲線(xiàn)進(jìn)行全面的分析。