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光矢量分析儀(OCI-V)是一款快速檢測光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進(jìn)行掃描,并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣,進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該產(chǎn)品采用自有的光路設(shè)計以及先進(jìn)算法,實現(xiàn)智能校準(zhǔn),操作簡單,極大節(jié)省測試時間。