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武漢東隆科技有限公司
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22
2024年
08月 -
東隆科技誠邀您共赴CIOE 2024深圳光博會，見證光電技術革新！
東隆科技邀請您參加9月11日-13日在深圳舉辦的2024中國光博會（CIOE）。作為本次光博盛會的參展商之一，我們將攜帶光譜影像、光束診斷、氣體傳感、單光子計數(shù)、光鏈路測量、TW/PW激光器、芯片制程等領域的相關產(chǎn)品進行展示，向業(yè)界展示我們在專業(yè)化和多功能化領域的新產(chǎn)品和新技術，誠摯邀請各位蒞臨我司展臺進行深度交流與參觀。期待與您相聚在這場科技與創(chuàng)新的盛宴中！東隆科技在10B29恭候您第二十五屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將于2024年9月11-13日在深圳國際會展中心舉辦。作為覆蓋【查看全文】
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02
2024年
08月 -
日本NTT-AT公司生產(chǎn)的強力拒水的超疏水材料HIREC系列大幅改變原來的防水材料概念，能夠大幅降低降雨、雨夾雪及雪融化時的水膜引起的電波衰減。超疏水材料HIREC系列具有驚人的疏水性能，其涂層表面與水滴的接觸角可達到150°以上。特別是HIREC100，具有良好的自清潔能力，使得涂層的超疏水性能可保持長約3年。新登場的HIREC300-W是一種水性的超疏水材料，延續(xù)了HIREC100的自清潔能力的同時，幾乎不含任何揮發(fā)性有機化合物（VOC），綠色環(huán)保，可應用于各種物品、場景。HIREC300-【查看全文】
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14
2024年
06月 -
Wasatch Photonics公司CEO David Creasey博士來我司訪問與交流
日前，來自美國WasatchPhotonics光電技術公司的DavidCreasey博士，受邀到訪中國合作伙伴——武漢東隆科技有限公司。此次訪問不僅強化了雙方的合作關系，更展示了WasatchPhotonics的光電子系列產(chǎn)品在中國市場的深入布局。WasatchPhotonics，作為光電技術行業(yè)的先驅(qū)者，專注于生產(chǎn)高性能的透射式VPH光柵（體積相位全息光柵），并基于這一核心技術開發(fā)出先進的拉曼光譜儀和OCT光譜儀。其產(chǎn)品因高效率、低偏振依賴性和寬帶寬上的均勻性能均受到業(yè)界好評。而作為Wasat【查看全文】
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14
2024年
06月 -
Luminosa單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡正式亮相PicoQuant中國應用中心
近日，PicoQuant中國應用中心正式宣布新增了一款高性能科研儀器——Luminosa單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡，它將為科研領域帶來高靈敏度、高分辨率的成像體驗新高度，推動生物、醫(yī)學以及材料科學等領域的深入研究。PicoQuant中國應用中心負責人表示：“Luminosa的加入，不僅為科研工作者提供了更為先進的實驗設備，也進一步推動了光學測量領域的技術創(chuàng)新。我們將繼續(xù)秉承‘服務創(chuàng)造未來’的理念，為科研工作者提供更加優(yōu)質(zhì)的服務與支持?！盠uminosa單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡的正式亮相PicoQuan【查看全文】
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21
2023年
09月 -
東隆集團自研的光纖微裂紋檢測儀OLI其原理是基于白光干涉，可以簡單理解為，設備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設備內(nèi)部作為參考光，一路進入待測器件作為信號光，參考光和信號光在相同光程的地方會發(fā)生干涉，且誤差在百微米內(nèi)，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。今天，小編說的重點是OLI測試范圍最新升級至-100dB，這意味著OLI能探測到光鏈路中任何高于-100dB的光學信號，且能對該位置進行精確【查看全文】
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21
2023年
07月 -
PicoQuant的Luminosa單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡榮獲創(chuàng)新獎
——該新系統(tǒng)可輕松整合時間分辨熒光顯微鏡方法PicoQuant運用公司最新的突破性技術改變了顯微鏡技術，為全球研究人員提供了極大的幫助。PicoQuant最近開發(fā)的單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡Luminosa榮獲LASERWorldofPHOTONICS頒發(fā)的生物光子學和醫(yī)學工程類創(chuàng)新獎。頒獎儀式于2023年6月27日在德國慕尼黑舉行的LASERWorldofPHOTONICS活動期間舉行。Luminosa將最高的數(shù)據(jù)質(zhì)量與極其簡單的日常操作相結(jié)合。它可以輕松集成到任何研究人員的“工具箱”中，成為開始【查看全文】
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18
2023年
05月 -
網(wǎng)絡研討會：使用FLIM和電容特性表征對金屬鹵化物鈣鈦礦缺陷進行顯微研究
2023年6月21日，PicoQuant有幸邀請到了黃勁松博士，并將在線上組織一場邀請研討會。他將探討電子缺陷在確定光伏器件效率和穩(wěn)定性方面的關鍵作用，并解釋如何利用FLIM（熒光壽命顯微成像）和電容特性測量來了解鈣鈦礦中缺陷的化學本質(zhì)。在本次網(wǎng)絡研討會中，黃博士將討論電子缺陷在決定光伏器件的效率和穩(wěn)定性方面所起的關鍵作用。他將重點介紹金屬鹵化物鈣鈦礦太陽能電池中缺陷消除和鈍化策略所取得的進展，這些電池近年來功率轉(zhuǎn)換效率迅速提高。黃博士還將解釋如何使用FLIM和基于電容的測量來直接可視化缺陷對材【查看全文】
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06
2023年
05月 -
光纖微裂紋檢測儀(OLI)動態(tài)范圍測試升級至-90dB
東隆集團自研的光纖微裂紋檢測儀(OLI)是以白光干涉為原理,利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。其測試長度由最初的6cm已升級至1m，我們研發(fā)工程師在攻克橫向測試長度升級的同時也在不斷研究拓展縱向探測深度，現(xiàn)在光纖微裂紋檢測儀(OLI)測試深度已由-80dB正式升級至-90dB。圖1.低成本光纖微裂紋檢測儀(OLI)下面我們用光纖微裂紋檢測儀（OLI）測試波分復用器，OLI能明顯測試出器件內(nèi)部-90dB附近反射峰值。圖2.-90dB探測深度本次，光纖微裂紋檢測儀(OLI)測量【查看全文】
