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　　原理介紹：

 

　　Park原子力顯微鏡的工作方式按針尖與樣品間受力的形式分類。原子力顯微鏡利用微懸臂梁來感應(yīng)和放大懸臂梁的末端與被測樣品原子之間的關(guān)系。達到檢測的目的（在掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，可以得到受力分布信息，從而獲得納米級分辨率的表面形貌結(jié)構(gòu)信息和表面粗糙度信息）。由于原子力顯微鏡可以同時觀察導(dǎo)體和非導(dǎo)體，彌補了掃描隨道顯微鏡的一些不足。

 

　　優(yōu)點：

 

　　與掃描電子顯微鏡相比，原子力顯微鏡有很多優(yōu)點。

 

　?、倥c電子顯微鏡只能提供二維圖像不同，AFM提供真實的三維表面圖像。

 

　?、谕瑫r，AFM不需要對樣品進行任何特殊處理，如鍍銅或鍍碳，否則會對樣品造成損壞。

 

　?、垭娮语@微鏡需要在高真空條件下工作。原子力顯微鏡在常壓甚至液體環(huán)境下都能很好地工作。這可用于研究生物大分子甚至活的生物組織。與掃描隨道顯微鏡STM相比，原子力顯微鏡可以觀察非導(dǎo)電樣品，因此具有更廣泛的適用性。目前，廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)的掃描力顯微鏡是以原子力顯微鏡為基礎(chǔ)的。

 

　　缺點：

 

　　與掃描電子顯微鏡（SEM）相比，AFM的缺點是成像范圍太小，速度慢，頭部的影響太大。

 

　　區(qū)別：

 

　　AFM是力基顯微鏡，SEM和TEM是電子顯微鏡，原理不同；AFMzui大的特點是樣品無損，廣泛應(yīng)用于生物系統(tǒng)。SEM和TEM被電子轟擊。，廣泛應(yīng)用于材料，AFM依賴于探針和表面的功能。

 

　　原子力顯微鏡適用于測量基板上樣品的表面起伏和形貌。

 

　　SEM是觀察樣品在基材上的表面形貌。

 

　　TEM觀察樣品結(jié)構(gòu)和內(nèi)部精細結(jié)構(gòu)，但需要進行測試。樣品相對較薄以允許電子通過，因此基板樣品不起作用。

 

　　四百原子力顯微鏡AFM檢測項目：

 

　　高度圖、相圖、表面粗糙度、三維立體圖等

 

　　應(yīng)用范圍：

 

　　Park原子力顯微鏡廣泛應(yīng)用于表面分析的各個領(lǐng)域，通過對地表地形的分析、歸納和總結(jié)，獲得更深層次的信息?？捎糜谘芯拷饘?、半導(dǎo)體和非金屬材料的表面形貌、表面重構(gòu)、摩擦等，獲得相界、分形結(jié)構(gòu)、側(cè)向力等信息的空間三維圖像。