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近期，凌光紅外LUXET Thermo 50鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)升級。

基于非制冷紅外相機(jī)的鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)

鎖相紅外顯微系統(tǒng)是一款先進(jìn)的非破壞性電性故障定位設(shè)備，它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中(長波)紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布，以此定位失效點，是實驗室研發(fā)、檢測、IC產(chǎn)品設(shè)計、電路失效分析領(lǐng)域的理想失效分析工具。

LUXET Thermo 50是一款基于非制冷紅外相機(jī)的鎖相紅外顯微成像系統(tǒng)，配置了電動垂直運動系統(tǒng)、高幀頻長波紅外相機(jī)、廣角鏡頭與顯微鏡頭、高壓源表，可以適用于封裝器件、電路板等多種不同種類器件的失效點分析。

西努光學(xué)自2003年成立以來，始終致力于以“以光學(xué)及圖像算法為核心，為用戶提供檢測解決方案"推動智能檢測裝備的轉(zhuǎn)型升級，公司將顯微光學(xué)成像技術(shù)以及圖像算法應(yīng)用于檢測技術(shù)，幫助工業(yè)企業(yè)、科研高校等客戶實現(xiàn)智能化檢測發(fā)展，產(chǎn)品功能涵蓋缺陷檢測、智能制造、實驗室理化解決方案等多個領(lǐng)域。