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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
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6Gs/s高速脈沖采集卡——飛行時(shí)間測量
Ndigo6G-12是一種用于采集短脈沖的混合ADC/tdc高速脈沖采集卡。高速脈沖采集卡結(jié)合了一個(gè)四通道瞬態(tài)記錄器和一個(gè)四通道時(shí)間間隔分析儀。Ndigo6G-12特別適合于飛行時(shí)間應(yīng)用(TOF系統(tǒng)),如激光雷達(dá)、飛行時(shí)間質(zhì)譜、時(shí)間分辨單光子計(jì)數(shù)(tcspc)、多光譜飛行時(shí)間成像、熒光壽命成像顯微鏡(FLIM)等。結(jié)合脈沖形狀信息(如面積或幅度),脈沖到達(dá)時(shí)間的測量精度可低至5ps。
4個(gè)通道,1600 Msps, 12位分辨率,可以獨(dú)立記錄或與兩個(gè)或一個(gè)通道(s)組合,具有高達(dá)6400 Msps的更高動態(tài)范圍。此外,Ndigo6G-12還包括4個(gè)分辨率為13 ps的TDC通道。
6Gs/s高速脈沖采集卡——飛行時(shí)間測量產(chǎn)品特色:
消零:檢測超過一定閾值的脈沖,只獲取相關(guān)數(shù)據(jù),以大量減少需要復(fù)制和分析的數(shù)據(jù)量
高速脈沖采集卡可配置直流偏置:當(dāng)獲取單極脈沖時(shí),將基線移到ADC范圍的邊緣,使動態(tài)范圍翻倍。
靈活的效用函數(shù):大量有用的細(xì)節(jié)可以幫助您使用蕞少的外部組件創(chuàng)建高度集成的設(shè)置。集成TiGer計(jì)時(shí)模式發(fā)生器可以提供數(shù)字脈沖模式來控制您的實(shí)驗(yàn)或內(nèi)部觸發(fā)器。使用門和否決函數(shù)與我們的門控邏輯。這也適用于跨通道或從一個(gè)靈活的觸發(fā)矩陣的額外數(shù)字輸入。
高速脈沖采集卡指標(biāo)參數(shù):
ADC通道 | 4 |
TDC通道 | 4 |
門控通道 | 4 |
接口 | 6x Lemo 00 |
單通道采樣率 | 6.4 Gsps |
多通道采樣率 | 1.6Gsps |
分辨率 | 12 bits |
蕞大帶寬 | TBD |
TDC bin寬 | 12 ps |
TDC 雙脈沖分辨率 | typically 4ns |
多次擊發(fā) | unlimited |
組間死時(shí)間 | none |
TDC讀出速率 | 30 MHits/s |
ADC讀出速率 | 6000 MBytes/s |
測量范圍 | 106 d |
常規(guī) start/stop | yes / yes |
同步板卡總數(shù) | 8 |
讀出總線 | PCIe3 x8 |
時(shí)間基準(zhǔn) | 50 ppb on board or external 10 MHz clock |
板載數(shù)據(jù)存儲校準(zhǔn) | ● |
觸發(fā)窗口可調(diào)節(jié) | ● |
允許事件重疊 | ● |
易用的Windows C API | ● |
系統(tǒng)內(nèi)固件更新 | ● |
Linux支持 | ● |
高速脈沖采集卡——飛行時(shí)間測量應(yīng)用領(lǐng)域:
FLIM熒光壽命成像顯微
激發(fā)熒光團(tuán)的衰變時(shí)間通常在幾納秒的范圍內(nèi)。在熒光壽命成像中,樣品的指數(shù)衰減需要皮秒范圍內(nèi)的時(shí)間分辨率來確定。
LIDAR激光雷達(dá)
激光雷達(dá)系統(tǒng)發(fā)射紫外線、可見光或近紅外光來成像物體,并測量反射光子的飛行時(shí)間(TOF)。這種系統(tǒng)用于許多不同領(lǐng)域的目標(biāo)檢測和跟蹤,從考古學(xué)到農(nóng)業(yè),自動駕駛汽車和機(jī)器人等。
OTDR光時(shí)域反射
在光學(xué)時(shí)域反射測量中,通過測量從光纖的同一端有多少光通過瑞利后向散射返回或從沿光纖的各個(gè)位置反射來確定反射時(shí)間。
TOF質(zhì)譜
在許多TOFMS單元中,使用TDC來精確測量單個(gè)離子的到達(dá)。從到達(dá)時(shí)間推算出離子的飛行時(shí)間,由此可以確定被探測粒子的質(zhì)荷比。
TDR時(shí)域反射
TDR (Time Domain refltometry)是一種測量沿導(dǎo)體反射的電子測量方法。它屬于距離故障(DTF)測量的范疇。TDR測量提供了有關(guān)傳輸系統(tǒng)寬帶行為的有意義的信息。
FLCS熒光壽命相關(guān)光譜
熒光相關(guān)光譜是一種高靈敏度的光學(xué)測量方法。在熒光發(fā)射強(qiáng)度隨時(shí)間的波動被記錄,這是由通過檢測體積的單個(gè)熒光團(tuán)引起的。
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