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SS-180A太陽光模擬器搭載測試儀表及測試夾具等設(shè)備可以用來測試光伏器件（包括各種太陽電池）的電性能，如Pmax，lmax，Vmax等以及I-V曲線等。

SS-180A技術(shù)參數(shù)：

有效光譜面積：180mm*180mm

光譜不匹配性：<±25%,C1assA

輻照不穩(wěn)定性：小于±2%C1assA

輻照不均勻性：小于±2%Class A

輻照強(qiáng)度：1.0sun

準(zhǔn)直角：優(yōu)于±4度

功率可調(diào)范圍：±30%

測量距離：35-40cm

快門控制時(shí)間：0.1s-9990hours

支持定制：AM0或其他濾片

光譜不匹配性（Spectral Coincidence）對(duì)于IV測試的影響： 我們知道太陽光模擬器要達(dá)到AM1.5G的標(biāo)準(zhǔn)光譜，幾乎是不可能的；但是盡可能的接近標(biāo)準(zhǔn)光譜，可使得我們的測試結(jié)果更加接近真實(shí)環(huán)境；B級(jí)光源在不同波段不匹配性在60~140%，與A75%~125%相 比，相差甚大，這也必將導(dǎo)致單一波長下的短路電流出現(xiàn)很大不確定性和偏差！從而產(chǎn)生累積效應(yīng)將 影響整體測試數(shù)據(jù)；

輻照不穩(wěn)定度（Temporal Instability of Irradiance）對(duì)于IV測試的影響： 日本JIS C8912 標(biāo)準(zhǔn)在國際三大標(biāo)準(zhǔn)中是比較嚴(yán)格的，要求輻照不穩(wěn)定度要小于1% （IEC 60904-9.ASTM E927-05.兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)要求小于2%）；

有效照射面積內(nèi)不同點(diǎn)的輻照均勻性（Uniformity of Irradiance）對(duì)于IV測試的影響： 峰值功率、短路電流隨著光斑內(nèi)輻照強(qiáng)度不均勻性增加，而顯著降低； 從而也導(dǎo)致其他相關(guān)參數(shù)測試數(shù)據(jù)（如轉(zhuǎn)換效率、填充因子）出現(xiàn)大的偏差?。。?/span>