目錄:束蘊儀器（上海）有限公司>>MDP>> MDPinline晶圓片在線面掃檢測儀
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工 |
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MDPinline是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時間內(nèi)，就可以“動態(tài)”測量出晶圓圖。
優(yōu)勢介紹：一秒一片!可集成在生產(chǎn)線上的高速晶圓載流子壽命的面掃測試，在不到一秒內(nèi)就能形成單個硅片的二維圖像。
該儀器本身不使用機械運動部件，因此在連續(xù)操作下也非常可靠。它為每個晶圓片提供完整的拓撲結(jié)構(gòu)，這為提高生產(chǎn)線的成本效益和效率提供了新的途徑，而這些都是迄今為止*的。例如，在不到3個小時的時間內(nèi)，對10000個晶圓片的拓撲結(jié)構(gòu)進行自動統(tǒng)計評估，結(jié)果可以顯示出晶體生長爐的性能和材料質(zhì)量的各種細節(jié)。
實時的質(zhì)量檢測可以幫助提高和優(yōu)化諸如擴散和鈍化等處理步驟。在運行的生產(chǎn)過程中，MDPinline可以立即檢測到某個處理步驟的任何故障，從而使產(chǎn)品達到的性能。
◆ 在不到一秒的時間內(nèi)，可對一個晶圓片進行全電特性測試。測量參數(shù)：載流子壽命(拓撲圖)、電阻率(雙線掃描)。
◆在非常短的時間內(nèi)獲得數(shù)以千計的晶圓片的統(tǒng)計信息可有效地幫助晶圓廠控制過程和生產(chǎn)。
◆適用于測量晶圓片的材料質(zhì)量，以及識別晶圓片層面的結(jié)晶問題，例如在光伏行業(yè)。
◆適用于擴散過程的完整性控制、鈍化效率和均勻性控制。
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樣品厚度 |
100 μm up to 1 mm |
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樣品尺寸 |
在125 x 125 和210 x 210 mm2 之間，或 4”到18” |
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電阻率 |
0.2 - 103 Ohm cm |
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傳導(dǎo)類型 |
p, n |
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材質(zhì) |
硅晶圓，部分或*加工的晶圓片，復(fù)合半導(dǎo)體等 |
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測量性能 |
少數(shù)載流子壽命（穩(wěn)態(tài)或非平衡(μ-PCD)可選擇的） |
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測量位置 |
默認2.8 mm， 其它可選 |
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檢測時間 |
獲得完整的一張晶圓圖時間小于1秒 |
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尺寸 |
400 x 400 x 450 mm，重量：29 kg |
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電源 |
24 V DC, 4 A |
其它細節(jié)
· 允許單片控制
· 參數(shù)自動設(shè)置，預(yù)定義的排序菜單
· 多達15個質(zhì)量等級的晶圓片自動分揀
· 監(jiān)控材料質(zhì)量、工藝的完整性和穩(wěn)定性
· 快速提升工藝和生產(chǎn)線
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