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通用光譜測量系統(tǒng)應(yīng)用丨通用反射/透射光譜測量
閱讀：2682 發(fā)布時(shí)間：2018-2-5
| 反射、透射這兩種模式是光譜測量的基本手段。實(shí)現(xiàn)這兩種模式的光譜測量，通常需要光譜儀、光源、光纖、測量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測量軟件等。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取*的光譜數(shù)據(jù)，反射、透射這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。 復(fù)享儀器為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設(shè)備。利用這些配置豐富的設(shè)備，就可以搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。 |
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| 典型光譜測量系統(tǒng)示意圖 |
| 一個(gè)光譜測量系統(tǒng)通常包括了光譜儀、光源、光纖、樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和軟件等部件。圖中所示是一個(gè)典型的反射光譜測量系統(tǒng)，其中各個(gè)部分的組成如下： 1、NOVA，制冷型面陣背照式光譜儀（高靈敏）； 2、iDH2000-BSC，寬譜紫外、可見、近紅外光源； 3、FIB-Y-400-VIS，7芯反射光纖； 4、R3，反射光譜測量支架； 5、STD-WS，標(biāo)準(zhǔn)白板； 6、Morpho，光譜測量軟件。 每個(gè)組成的光譜部分都有其光譜范圍。因此，需要根據(jù)用戶的實(shí)際需求，選擇合適的光譜范圍。例如，為了測量紫外部分的光譜，就需要使用能夠檢測紫外波段的紫外敏化光譜儀或面陣背照式光譜儀，以及具有紫外輻射的寬譜段光源。 以下分別介紹反射、透射、和熒光三種基本的測量模式。 *部分 反射光譜測量 |
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| 三種典型的反射光譜測量方式 |
| 物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在的平整表面上的反射是鏡面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多數(shù)物體表面的反射則介于兩者之間。 對(duì)于鏡面反射，一般使用反射光纖測量0度角入射，0度角反射的方式測量。而對(duì)于漫反射，則一般使用積分球測量。除此之外，鏡面反射還可以通過45度角入射，45度角反射衡量；漫反射也可以通過0度角入射，45度角反射衡量。具體視樣品及采用的測量標(biāo)準(zhǔn)而定。 如上圖所示，藍(lán)色框是基本的鏡面反射光譜測量方式。測量中采用的是Y形反射光纖。 紅色框是倒置式的鏡面反射光譜測量方式。由于這種方式可以保持樣品至反射光纖的距離和標(biāo)準(zhǔn)參比樣品至反射光纖的距離相等，因此，倒置光譜測量方式更加適合于需要測量光譜反射率的場合。 綠色框是倒置的積分球反射光譜測量方式，可以采用8度角照射，90度角接受，也可以采用90度角照射，8度角接受的方式。這種方式適合于毛糙表面或絨面樣品的反射率測量。 第二部分 透射光譜測量 |
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| 兩種典型的透射光譜測量系統(tǒng) |
| 透射與反射的情況相似，對(duì)平整樣品和粗糙樣品的透射光譜測量方式是不同的。對(duì)于的平整樣品，采用0度角入射、180度角接受即可；對(duì)于粗糙樣品，則需要采用0度角入射、積分球接收的形式。 另外，固態(tài)樣品和液態(tài)樣品的透過率測量也不同。固態(tài)樣品，如薄膜、濾光片等，通常采用R2透過光譜測量支架測量，而液體則使用標(biāo)準(zhǔn)比色皿承載，在R4這樣的比色皿光譜測量支架中測量。 如上圖所示，藍(lán)色框是適用于薄膜樣品的透過率測量系統(tǒng)。它可以調(diào)節(jié)光程，同時(shí)也能適用于更加復(fù)雜的固態(tài)樣品。 紅色框是適用于12.8x12.8（光程10x10）的比色皿的透過率測量系統(tǒng)。 如果是測量毛糙表面的樣品透過率，則需要使用輻射式積分球（或稱透過式積分球），如IS-50-10-T內(nèi)徑50，開口10的積分球。配合這種積分球使用的支架型號(hào)為：R3-IS50-T，其配置如下圖。 |
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| R3-IS50-T，積分球透射光譜測量支架，適用于具有毛糙表面的樣品反射光譜測試，如聚光玻璃、毛玻璃等 |
技術(shù)提示：積分球的使用 |
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| 使用雙積分球搭建的吸收光譜測試系統(tǒng) |