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| 產地類別 | 進口 |
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產品簡介
詳細介紹
泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀新型粗糙度儀，可測 Ra ， Rz 兩種參數(shù)。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求。儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可,攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經外接口 操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。
校準方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準標準，可預設標準值，通過 LCD 顯示出來。
測針保護 不用時，設“ park ”位置可全面保護測針。
人體工程學設計
泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀技術參數(shù)：
量 程： | 200um |
行 程： | 5mm |
取樣長度： | 0.8mm+/-15% |
參 數(shù)： | Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um |
精 度： | Ra:0.1um Rz:0.1um |
尺 寸： | 125*80*38mm |
檢測方式： | 壓電式 |
重 量： | 200g |